[发明专利]一种激光系统跟瞄偏差测量装置无效

专利信息
申请号: 201110096311.9 申请日: 2011-04-18
公开(公告)号: CN102221450A 公开(公告)日: 2011-10-19
发明(设计)人: 颜宏;雒仲祥;田英华;何丽;罗佳 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 翟长明;韩志英
地址: 621900 四川*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 激光 系统 偏差 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种激光系统跟瞄偏差测量装置,其特征在于:所述的测量装置包括小孔(3)、漫反射屏(4)、信标光源(5)、窄带滤光片(7)、成像镜头(8)、CCD(9)、数据处理系统(10),漫反射屏(4)置于激光系统正面,漫反射屏(4)中心位置设置有一个小孔(3),信标光源(5)置于小孔(3)正后方,在散射激光(6)的光路上依次设置有窄带滤光片(7)、成像镜头(8)和CCD(9)。

2.如权利要求1所述的激光系统跟瞄偏差测量装置,其特征在于:所述的漫反射屏(4)的尺寸为激光系统(1)的发射激光到达靶点的漫反射屏(4)上的光斑尺寸的1.1倍至10倍。

3.如权利要求1所述的激光系统跟瞄偏差测量装置,其特征在于:所述的小孔(3)、漫反射屏(4)、信标光源(5)、窄带滤光片(7)、成像镜头(8)、CCD(9)的中心高度与激光系统(1)的中心高度相同。

4.如权利要求1所述的激光系统跟瞄偏差测量装置,其特征在于:所述的漫反射屏(4)相对于激光系统(1)的发射激光正面垂直放置。

5.如权利要求1所述的激光系统跟瞄偏差测量装置,其特征在于:所述的信标光源(5)亮度与激光系统(1)的探测灵敏度相匹配。

6.如权利要求1所述的激光系统跟瞄偏差测量装置,其特征在于:所述的信标光源(5)光谱特性与激光系统(1)的探测波段相匹配。

7.如权利要求1所述的激光系统跟瞄偏差测量装置,其特征在于:所述的小孔(3)直径为激光系统(1)发射的激光到达漫反射屏(4)上的光斑直径的1/50至1/20。

8.如权利要求1所述的激光系统跟瞄偏差测量装置,其特征在于:所述的窄带滤光片(7)的通过波长与激光系统(1)的发射激光波长相匹配。

9.如权利要求1所述的激光系统跟瞄偏差测量装置,其特征在于:所述的CCD(9)响应波长与激光系统(1)的发射激光波长相匹配。

10.如权利要求1所述的激光系统跟瞄偏差测量装置,其特征在于:所述的窄带滤光片(7)、成像镜头(8)、CCD(9)设置在入射激光(2)和散射激光(6)的夹角α为1°至10°位置。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院应用电子学研究所,未经中国工程物理研究院应用电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110096311.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top