[发明专利]发光二极管及其制造方法无效
申请号: | 201110095013.8 | 申请日: | 2011-04-15 |
公开(公告)号: | CN102185063A | 公开(公告)日: | 2011-09-14 |
发明(设计)人: | 李淼 | 申请(专利权)人: | 映瑞光电科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14;H01L33/00 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光二极管 及其 制造 方法 | ||
1.一种发光二极管,包括:
衬底;
依次位于所述衬底上的缓冲层、非掺层、插入层、n型半导体层、有源层、p型半导体层以及电流扩散层;
其中,所述插入层由至少一层非掺杂氮化物层和至少一层n型掺杂氮化物层构成,所述非掺杂氮化物层靠近所述n型半导体层,所述n型掺杂氮化物层靠近所述非掺层。
2.如权利要求1所述的发光二极管,其特征在于,所述非掺杂氮化物层为非掺杂GaN层或非掺杂AlGaN层,所述n型掺杂氮化物层为n型掺杂GaN层或n型掺杂AlGaN层。
3.如权利要求2所述的发光二极管,其特征在于,所述n型掺杂氮化物层中掺入了硅离子。
4.如权利要求1所述的发光二极管,其特征在于,所述插入层的厚度在5nm至200nm之间。
5.如权利要求1至4中任一项所述的发光二极管,其特征在于,还包括:
深度延伸至所述n型半导体层的开口;
形成于所述开口内的n型电极,所述n型半导体层通过所述n型电极与一电源负极电连接;
形成于所述电流扩散层上的p型电极,所述p型半导体层通过所述p型电极与一电源正极电连接。
6.如权利要求1至4中任一项所述的发光二极管,其特征在于,还包括:
形成于所述衬底远离所述n型半导体层表面上的n型电极,所述n型半导体层通过所述n型电极与一电源负极电连接;
形成于所述电流扩散层上的p型电极,所述p型半导体层通过所述p型电极与一电源正极电连接。
7.一种发光二极管的制造方法,其特征在于,包括:
提供一衬底;
在所述衬底上依次形成缓冲层、非掺层、插入层、n型半导体层、有源层、p型半导体层以及电流扩散层;其中,所述插入层由至少一层非掺杂氮化物层和至少一层n型掺杂氮化物层构成,所述非掺杂氮化物层靠近所述n型半导体层,所述n型掺杂氮化物层靠近所述非掺层。
8.如权利要求7所述的发光二极管的制造方法,其特征在于,所述非掺杂氮化物层为非掺杂GaN层或非掺杂AlGaN层,所述n型掺杂氮化物层为n型掺杂GaN层或n型掺杂AlGaN层。
9.如权利要求8所述的发光二极管的制造方法,其特征在于,所述n型掺杂氮化物层中掺入了硅离子。
10.如权利要求7所述的发光二极管的制造方法,其特征在于,所述插入层的厚度在5nm至200nm之间。
11.如权利要求7至10中任一项所述的发光二极管的制造方法,其特征在于,还包括:
形成深度延伸至所述n型半导体层的开口;
在所述开口内形成n型电极,所述n型半导体层通过所述n型电极与一电源负极电连接;
在所述电流扩散层上形成p型电极,所述p型半导体层通过所述p型电极与一电源正极电连接。
12.如权利要求7至10中任一项所述的发光二极管的制造方法,其特征在于,还包括:
在所述衬底远离所述n型半导体层的表面上形成n型电极,所述n型半导体层通过所述n型电极与一电源负极电连接;
在所述电流扩散层上形成p型电极,所述p型半导体层通过所述p型电极与一电源正极电连接。
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