[发明专利]光学式位置检测装置、机械手及机械臂

权利要求书

1.一种光学式位置检测装置，其特征在于，

具有：

多个光源部，出射检测光，并且在与上述检测光的出射方向交叉的方向上分离；

光检测部，其接收由对象物体反射的上述检测光；

光源驱动部，其使上述多个光源部中的部分光源部在第一期间点亮，并使与在上述第一期间点亮的光源部不同的光源部在第二期间点亮；以及

位置检测部，其基于上述光检测部的受光结果，检测上述对象物体的位置，

在从上述检测光的出射方向观察时，上述光检测部位于由经过上述多个光源部的闭路围成的区域的内侧或被上述多个光源部夹成的区域的内侧，

上述多个光源部具备第一发光元件和位于比上述第一发光元件靠上述光检测部侧的位置的第二发光元件，

上述光源驱动部使上述第一发光元件和上述第二发光元件交替点亮。

2.根据权利要求1所述的光学式位置检测装置，其特征在于，

上述位置检测部，在上述第一发光元件和上述第二发光元件以相同的强度交替发光之际，在上述第一发光元件发光时的上述光检测部处的受光强度大于上述第二发光元件发光时的上述光检测部处的受光强度时，判断出上述对象物体位于比上述第一发光元件和上述第二发光元件的中间位置靠上述第一发光元件侧的位置；在上述第一发光元件发光时的上述光检测部处的受光强度小于上述第二发光元件发光时的上述光检测部处的受光强度时，判断出上述对象物体位于比上述第一发光元件和上述第二发光元件的中间位置靠上述第二发光元件侧的位置。

3.根据权利要求2所述的光学式位置检测装置，其特征在于，

在将上述检测光的出射方向设为Z轴方向，并将与该Z轴方向交叉的两个方向设为X轴方向及Y轴方向时，

上述多个光源部包含在X轴方向分离的光源部和在Y轴方向分离的光源部。

4.根据权利要求1所述的光学式位置检测装置，其特征在于，

上述位置检测部，根据基于上述光检测部的受光结果，使上述多个光源部中的部分光源部和另一部分光源部差动的结果，检测出上述对象物体的位置。

5.根据权利要求1所述的光学式位置检测装置，其特征在于，

具备向上述光检测部出射光的参照用光源部，

上述位置检测部，根据基于上述光检测部的受光结果，使上述多个光源部中的部分光源部和上述参照用光源部改变组合地差动的结果，检测出上述对象物体的位置。

6.根据权利要求1所述的光学式位置检测装置，其特征在于，

上述检测光为红外光。

7.一种机械手，其特征在于，

具有：

把持对象物体的多个把持爪；

把持爪保持部，其保持上述多个把持爪；

多个光源部，出射检测光，并且在与上述检测光的出射方向交叉的方向上分离；

光检测部，其接收由上述对象物体反射的上述检测光；

光源驱动部，其使上述多个光源部中的部分光源部在第一期间点亮，并使与在上述第一期间点亮的光源部不同的光源部在第二期间点亮；以及

位置检测部，其基于上述光检测部的受光结果，检测上述对象物体的位置，

在从上述检测光的出射方向观察时，上述光检测部位于由经过上述多个光源部的闭路围成的区域的内侧或被上述多个光源部夹成的区域的内侧，

上述多个光源部具备第一发光元件和位于比上述第一发光元件靠上述光检测部侧的位置的第二发光元件，

上述光源驱动部使上述第一发光元件和上述第二发光元件交替点亮。

8.根据权利要求7所述的机械手，其特征在于，

上述位置检测部，在上述第一发光元件和上述第二发光元件以相同的强度交替发光之际，在上述第一发光元件发光时的上述光检测部处的受光强度大于上述第二发光元件发光时的上述光检测部处的受光强度时，判断出上述对象物体位于比上述第一发光元件和上述第二发光元件的中间位置靠上述第一发光元件侧的位置；在上述第一发光元件发光时的上述光检测部处的受光强度小于上述第二发光元件发光时的上述光检测部处的受光强度时，判断出上述对象物体位于比上述第一发光元件和上述第二发光元件的中间位置靠上述第二发光元件侧的位置。