[发明专利]高铬铸铁晶粒度试样的制备方法有效
| 申请号： | 201110082360.7 | 申请日： | 2011-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN102183402A | 公开（公告）日： | 2011-09-14 |
| 发明（设计）人： | 石卫东;刘清信;李桂云;何闯 | 申请（专利权）人： | 天津万立鑫晟新材料技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/32 | 分类号： | G01N1/32;G01N1/44 |
| 代理公司： | 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 | 代理人： | 杨红 |
| 地址： | 300384 天津市西青区华苑产业*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 铸铁 晶粒 试样 制备 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种高铬铸铁晶粒度试样的制备方法，其特征是:具体步骤如下：
一、在高铬铸铁上切取高铬铸铁试块，并将其一个表面预抛光；
二、将抛光面朝上置于电阻炉中；
三、控制升温速率30-50℃/h，缓慢升温至650-730℃；
四、然后控制升温速率150-250℃/h，升温至850-900℃，保温40-70分钟；
五、控制升温速率150-250℃/h，升温至910-940℃，保温15-30分钟；
六、控制升温速率150-250℃/h，升温至950-980℃，保温10-20分钟；
七、然后淬入冷水中；
八、再次抛光试样表面；
九、用3%-4%硝酸乙醇溶液腐蚀得到高铬铸铁晶粒度试样。
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