[发明专利]光学测量装置、光学测量系统以及光纤耦合器有效

专利信息
申请号: 201110074890.7 申请日: 2011-03-24
公开(公告)号: CN102235910A 公开(公告)日: 2011-11-09
发明(设计)人: 大久保和明;田口都一 申请(专利权)人: 大*电子株式会社
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/02;G01M11/02;G02B6/26
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 测量 装置 系统 以及 光纤 耦合器
【权利要求书】:

1.一种光学测量装置,其包括:

光谱测量器;

第1光纤,其用于传输作为测量对象的光;

半球部,在其内壁上具有光扩散反射层;

平面部,其被配置成封闭上述半球部的开口部,在上述半球部的内壁侧具有镜面反射层,上述平面部包括用于将通过上述第1光纤而被射出的光向由上述半球部和上述平面部形成的积分空间内导通的第1窗,

该光学测量装置还包括用于使上述积分空间内的光透过上述平面部的第2窗而向上述光谱测量器传输的第2光纤。

2.一种光学测量装置,其包括:

光谱测量器;

第1光纤,其用于传输作为测量对象的光;

1/4球部,在其内壁上具有光扩散反射层;

第1和第2平面部,其被配置成封闭上述1/4球部的开口部,在上述1/4球部的内壁侧具有镜面反射层,上述第1和第2平面部中的一个平面部包括用于将通过上述第1光纤而被射出的光向由上述1/4球部、上述第1和第2平面部形成的积分空间内导通的第1窗,

该光学测量装置还包括用于使上述积分空间内的光透过与上述第1光纤所连接的平面部相同的平面部的第2窗而向上述光谱测量器传输的第2光纤。

3.根据权利要求1或2所述的光学测量装置,其中,

上述第1光纤包括分别传输作为测量对象的光的多根光纤线材。

4.根据权利要求1或2所述的光学测量装置,其中,

在上述平面部,上述第1窗和上述第2窗隔开预先设定的距离地配置。

5.根据权利要求1或2所述的光学测量装置,其中,

上述第1光纤和上述第2光纤一体化并贯穿上述平面部。

6.一种光学测量系统,其中,

包括:

光源;

光谱测量器;

光分配器,其用于将来自上述光源的光分配成多个光;

第1光纤,其用于传输表示测量对象物的特性的多个光,表示上述测量对象物的特性的多个光是使来自上述光分配器的多个光分别照射到测量对象物上而得到的;

半球部,在其内壁上具有光扩散反射层;

平面部,其被配置成封闭上述半球部的开口部,在上述半球部的内壁侧具有镜面反射层,上述平面部包括用于将通过上述第1光纤而被射出的光向由上述半球部和上述平面部形成的积分空间内导通的第1窗,

该光学测量系统还包括用于使上述积分空间内的光透过上述平面部的第2窗而向上述光谱测量器传输的第2光纤。

7.一种光纤耦合器,其与光谱测量器的输入侧连接,其包括:

半球部,在其内壁上具有光扩散反射层;

平面部,其被配置成封闭上述半球部的开口部,在上述半球部的内壁侧具有镜面反射层,

上述平面部包括:

第1窗,其与用于传输作为测量对象的光的第1光纤相连接,并且用于将通过该第1光纤而被射出的光向由上述半球部和上述平面部形成的积分空间内导通;

第2窗,其与用于将上述积分空间内的光向上述光谱测量器传输的第2光纤相连接。

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