[发明专利]一种红外玻璃内部缺陷和残余应力检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种红外玻璃内部缺陷和残余应力检测装置，包括按顺序排列的红外光源、扩束镜、直径可调的光栏、样品架和红外摄像装置，其特征在于还包括起偏器和检偏器，所述的起偏器设置在所述的光栏和所述的样品架之间，所述的检偏器可在所述的起偏器和所述的样品架之间或所述的样品架和所述的红外相机之间任意切换，所述的样品架连接有位置控制器，所述的红外光源、所述的位置控制器和所述的红外摄像装置分别与控制计算机连接。

2.根据权利要求1所述的一种红外玻璃内部缺陷和残余应力检测装置，其特征在于所述的红外摄像装置为带有红外滤光片和广角镜头的红外相机。

3.一种使用权利要求1所述的检测装置的红外玻璃内部缺陷和残余应力的检测方法，其特征在于它包括以下步骤：

首先调节各光学元件，使其中心同高且处于系统光轴上，然后将待测红外玻璃样品置于样品架上，调节光栏的直径，使其与待测红外玻璃样品的直径相同；

a、将检偏器设置在起偏器与样品架之间，检测待测红外玻璃样品的内部缺陷，具体步骤为：

(1)、使检偏器或起偏器绕光轴旋转，调节检偏器和起偏器的偏振方向之间的夹角，使通过待测红外玻璃样品后的光线的光强落在红外摄像装置的线性工作区域内；

(2)、调节红外摄像装置使待测红外玻璃样品的后表面成像在红外摄像装置的焦平面上，在控制计算机的显示屏上得到待测红外玻璃样品内部缺陷的投影图，进而检测出待测红外玻璃样品内部的条纹、气泡、析晶、分相和微裂纹，通过控制计算机驱动位置控制器，控制待测红外玻璃样品上下左右移动，同步得到待测红外玻璃样品在不同方位的投影图；

b、将检偏器设置在样品架与红外摄像装置之间，检测待测红外玻璃样品的残余应力，具体步骤为：

(1)、移去待测红外玻璃样品，绕光轴转动检偏器，使检偏器的偏振方向与起偏器的偏振方向正交出现全暗视场；

(2)、将待测红外玻璃样品放回原处，通过观察待测红外玻璃样品后表面是否出现明暗条纹，判断待测红外玻璃样品内部是否存在残余应力；

(3)、当待测红外玻璃样品后表面出现明暗条纹，则判断待测红外玻璃样品内部存在残余应力，转动检偏器使暗条纹变亮，记下此时检偏器转动的角度θ，根据公式3.14θ/nm计算得出残余应力的大小。