[发明专利]一种温控系统及在该温控系统下进行单粒子效应试验的方法

权利要求书

1.一种温控系统，其特征在于：包括远程控制计算机、温度控制器、加热片、红外探头及高温导线，温度控制器通过高温导线分别与红外探头和加热片进行连接，且温度控制器与远程控制计算机连接，红外探头和加热片放置在真空辐照靶室内部，温度控制器与远程控制计算机放置在真空辐照靶室外部，远程控制计算机将温度控制指令发送给温度控制器，温度控制器根据温度控制指令控制加热片的加热温度，红外探头采集加热片的加热温度反馈给温度控制器，温度控制器再根据反馈的加热温度值进行修正调节加热片的加热温度，使所述加热温度与远程控制计算机温度控制指令中预设的温度值相同，完成温度控制，同时温度控制器将最终温度值反馈给远程控制计算机。

2.根据权利要求1所述的一种温控系统，其特征在于：所述连接温度控制器的高温导线和连接加热片、红外探头的高温导线通过设置在真空辐照靶室侧壁上的92芯法兰实现真空辐照靶室内外系统的连接。

3.根据权利要求1所述的一种温控系统，其特征在于：所述加热片通过导热硅胶粘接在真空辐照靶室内部的芯片背面，芯片由设置在真空辐照靶室外部的程控电源进行远程供电。

4.根据权利要求1所述的一种温控系统，其特征在于：所述温度控制器包括控制器、驱动电路和温度处理及校正模块，其中控制器接收远程控制计算机发送的温度控制指令，并将所述温度控制指令译码为驱动电路可识别的指令代码，输出给驱动电路，同时接收温度处理及校正模块输出的温度修正值，调节加热片的加热温度，使所述加热温度与远程控制计算机温度控制指令中预设的温度值相同；驱动电路根据接收的所述指令代码对加热片的温度进行控制；温度处理及校正模块将红外探头从加热片采集的温度值与远程控制计算机发送的温度控制指令中预设的温度值进行比较，并将比较后得到的温度修正值发送给控制器。

5.根据权利要求4所述的一种温控系统，其特征在于：所述控制器、驱动电路和温度处理及校正模块放置在具有抗电磁干扰能力的金属壳体中。

6.在权利要求1所述的温控系统下进行单粒子效应试验的方法，其特征在于包括如下步骤：

(1)将加热片通过导热硅胶粘接在真空辐照靶室内部的芯片背面，将芯片和加热片一同放置在真空辐照靶室内部的支架上，并将加热片、红外探头通过高温导线与真空辐照靶室外的温度控制器连接，同时将芯片与真空辐照靶室外部的程控电源连接，将远程控制计算机与温度控制器及程控电源连接；

(2)远程控制计算机将温度控制指令发送给温度控制器，温度控制器根据温度控制指令中的温度预设值对加热片进行加热，并根据红外探头从加热片采集的加热温度值对加热片的加热温度进行修正调节，使所述加热温度与远程控制计算机温度控制指令中的温度预设值相同，完成对芯片的加热；

(3)开启程控电源，利用远程控制计算机对真空辐照靶室内部的芯片进行供电；

(4)在恒定的温度预设值下，在真空辐照靶室内部完成单粒子效应试验。

7.根据权利要求6所述的在温控系统下进行单粒子效应试验的方法，其特征在于：所述步骤(4)中单粒子效应试验包括单粒子翻转试验、单粒子闩锁试验和单粒子功能中断试验。

8.根据权利要求7所述的在温控系统下进行单粒子效应试验的方法，其特征在于：所述单粒子翻转试验的具体判定过程如下：

(1)首先将初始的图形码S_i写入到被辐照芯片，完成对被辐照芯片的初始测试向量的设定；

(2)在辐照环境下读出被辐照芯片内部的数据S_i+1，并将所述读出的数据S_i+1进行缓存；

(3)将所述初始的图形码S_i与所述读出的数据S_i+1进行比较，比较过程如下：

a、将同一地址i单元初始的图形码S_i取反，并与辐照环境下读出芯片内部的数据S_i+1相与，得到相应的一组新序列T_i，设j为序列的内部相对偏移地址，则：

若T(i，j)的值为1，则数组T_i中第j位置的数据发生了0-＞1翻转；

若T(i，j)的值为0，则数组T_i中第j位置的数据没有发生0-＞1翻转；

b、将同一地址i单元初始的图形码S_i和辐照环境下读出芯片内部的数据S_i+1的非相与，得到相应的一组新序列J_i，设k为J_i序列内部的相对偏移地址，则：

若J(i，j)的值为1，则数组J_i中第j位置的数据发生了1-＞0翻转；

若J(i，j)的值为0，则数组J_i中第j位置的数据没有发生1-＞0翻转；

c、统计T(i，j)与J(i，j)之和，为总的单粒子翻转次数；

(4)重置测试码，回到步骤(1)。