[发明专利]用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡

说明书

技术领域

本发明涉及一种用来测试读卡器的测试卡，尤指一种可用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡。

背景技术

一般来说，便携式电子装置，例如一笔记本型计算机，通常会设置有可读取多种规格的存储卡的读卡器，以便于使用者读取或存储存储卡的数据。存储卡的类型可分为安全数字存储卡(Secure Digital Memory Card，SD卡)、数字图像卡(Extreme Digital-Picture Card，XD卡)或存储条卡(Memory Stick Card，MS卡)等。在工厂端进行产品的品质管理与验证测试时，测试人员需分别将不同规格的存储卡插入读卡器的相对应插槽内，才可对该规格的插槽进行合格率测试。举例来说，欲测试读卡器的安全数字存储卡插槽的合格率时，测试人员将一安全数字存储卡插入读卡器的安全数字存储卡插槽，并利用自动测试技术进行合格率测试。接着当欲测试读卡器的数字图像卡插槽的合格率时，测试人员需将上一次测试使用的卡片(如安全数字存储卡)抽出，才可将数字图像卡插入读卡器的数字图像卡插槽，以继续进行数字图像卡插槽的验证，意即传统的方法需准备多个不同规格的存储卡，并将各存储卡分别插入读卡器的各卡槽，以分别进行测试与验证。如此一来，读卡器的传统测试手续相当繁琐复杂，容易因人为操作失误而降低测试的准确度，且需耗费较高工时，拖累生产线的整体产能。

因此，需要提供一种用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡，以解决上述问题。

发明内容

本发明提供一种可用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡，以解决上述的问题。

本发明公开一种用来测试具有多种存储卡规格的读卡器的测试卡，该测试卡包含有一第一基板、一第二基板、一第一连接端子组与一第二连接端子组；该第二基板部分嵌合于该第一基板的一表面，该第二基板的一长度实质上小于该第一基板的一长度；该第一连接端子组设置于该第一基板的该表面的一端，且不被该第二基板遮蔽，该第一连接端子组用来与一读卡器的一第一传输端子组接触以电性导通；该第二连接端子组设置于该第二基板的一端，该第二连接端子组用来在该第一连接端子组与该第一传输端子组接触时与该读卡器的一第二传输端子组接触以电性导通。

本发明还公开该第二连接端子组用来在该第一基板插入该读卡器且止抵于该读卡器的一止抵部时与该读卡器的该第二传输端子组接触以电性导通。

本发明还公开该第一连接端子组的各相邻第一连接端子之间设置有一测试电阻。

本发明还公开该第二连接端子组的各相邻第二连接端子之间设置有一测试电阻。

本发明还公开该测试卡还包含有一握持端部，其包覆该第一基板与该第二基板的另一端，该握持端部在该第一基板与该第二基板插入该读卡器时外露于该读卡器。

本发明还公开该第二基板的表面形成有一定位孔，该定位孔用来辅助该第二基板以部分嵌合方式定位于该第一基板的该表面。

本发明还公开该第一基板与该第二基板的组合的一厚度小于该第一基板的一厚度与该第二基板的一厚度的总和。

本发明还公开该测试卡还包含有一导角结构，其形成于该第一基板的该端，该导角结构用来导引该第一基板插入该读卡器。

本发明还公开该第二基板的一侧边形成有一泄气槽。

本发明还公开该测试卡还包含有一第三基板以及一第三连接端子组。该第三基板嵌合有该第二基板的该第一基板部分嵌合于该第三基板的一表面，且该第一基板的该长度实质上小于该第三基板的一长度。该第三连接端子组设置于该第三基板的该表面的一端，且不被该第一基板遮蔽。该第三连接端子组用来与该读卡器的一第三传输端子组接触以电性导通。

本发明还公开该第二连接端子组用来在该第三基板插入该读卡器且止抵于该读卡器的一止抵部时与该读卡器的该第二传输端子组接触以电性导通。

本发明还公开该第三连接端子组的各相邻第三连接端子之间设置有一测试电阻。

本发明还公开该第一基板、该第二基板与该第三基板的组合的一厚度小于该第一基板的一厚度、该第二基板的一厚度与该第三基板的一厚度的总和。

本发明还公开该第一基板、该第二基板与该第三基板的形状与尺寸可分别符合一安全数字存储卡、一数字图像卡与一存储条卡的形状与尺寸，且该第一连接端子组、该第二连接端子组与该第三连接端子组的规格实质上分别符合该安全数字存储卡、该数字图像卡与该存储条卡的规格。

本发明还公开该测试卡为一卡型结构。