[发明专利]样本分析仪

权利要求书

1.一种用试剂容器内的试剂分析样本的样本分析仪，包括：

试剂容器固定部件，用于固定带有记录着试剂的相关试剂信息的电子标签的复数支试剂容器；

天线部件，向所述试剂容器固定部件所固定的试剂容器的电子标签发射电波；及

限制部件，设置于所述试剂容器固定部件固定的试剂容器的电子标签与所述天线部件之间，用于限制所述天线部件发射的电波的范围。

2.根据权利要求1所述的样本分析仪，其特征在于：所述限制部件包含带间隙的金属部件，所述间隙用于让所述天线部件发射的所述电波通过。

3.根据权利要求2所述的样本分析仪，其特征在于：所述间隙一直延伸到所述金属部件的末端。

4.根据权利要求2所述的样本分析仪，其特征在于：所述间隙的垂直方向长度大于所述间隙的水平方向长度。

5.根据权利要求1所述的样本分析仪，包括：移动所述试剂容器固定部件和所述天线部件中的至少其中之一的驱动部件。

6.根据权利要求5所述的样本分析仪，其特征在于：所述限制部件相对于所述天线部件的位置是固定的。

7.根据权利要求6所述的样本分析仪，其特征在于：所述驱动部件移动所述试剂容器固定部件，使读取目标试剂信息的电子标签位于所述天线部件的正面位置；及所述限制部件用于限制所述天线部件发射的电波到达与所读取的目标电子标签相邻的电子标签。

8.根据权利要求6所述的样本分析仪，其特征在于：所述天线部件包含发射电波的天线基板和固定所述天线基板的天线固定部件；及所述限制部件安装在所述天线固定部件上。

9.根据权利要求8所述的样本分析仪，包括：收纳所述试剂容器固定部件和所述天线部件的收纳部件；及冷却所述试剂的冷却部件，其中所述天线固定部件在可透过电波的状态下覆盖所述天线基板。

10.根据权利要求1所述的样本分析仪，其特征在于：

所述复数支试剂容器包括复数支带第一电子标签的第一试剂容器和复数支带第二电子标签的第二试剂容器；

所述试剂容器固定部件包含固定所述复数支第一试剂容器的第一试剂容器固定部件和固定所述复数支第二试剂容器的第二试剂容器固定部件；

所述天线部件包含向所述第一电子标签发射电波的第一天线部件和向所述第二电子标签发射电波的第二天线部件；及

所述限制部件包含设置在所述第一电子标签和所述第一天线部件之间的第一限制部件，以及设置在所述第二电子标签和所述第二天线部件之间的第二限制部件。

11.根据权利要求1所述的样本分析仪，其特征在于：

所述复数支试剂容器包含带第一电子标签的第一试剂容器和带第二电子标签的第二试剂容器；

所述试剂容器固定部件包含固定所述第一试剂容器的第一试剂容器固定部件和固定所述第二试剂容器的第二试剂容器固定部件；

所述天线部件配置在所述第一试剂容器固定部件和所述第二试剂容器固定部件之间；及

所述限制部件设在所述第一电子标签和所述天线部件之间以及所述第二电子标签和所述天线部件之间这两个位置中的至少其中一处。

12.根据权利要求11所述的样本分析仪，其特征在于：

所述第一试剂容器固定部件从平面看呈圆环形，固定复数支第一试剂容器；

所述第二试剂容器固定部件从平面看在所述第一试剂容器固定部件内侧呈圆环形，固定复数支第二试剂容器；及

所述限制部件设在所述第二试剂容器固定部件的第二试剂容器的第二电子标签和所述天线部件之间。

13.一种用试剂容器内的试剂分析样本的样本分析仪，包括：

试剂容器固定部件，用于固定复数支带有记录着试剂的相关试剂信息的电子标签的试剂容器；

向所述电子标签发射电波的天线部件，其中所述天线部件向所述电子标签发射的电波范围受到限制。

14.根据权利要求13所述的样本分析仪，其特征在于：所述天线部件包含限制向所述电子标签发射电波的范围的限制部件。