[发明专利]用于液晶显示面板的基板有效
申请号: | 201110064180.6 | 申请日: | 2005-09-02 |
公开(公告)号: | CN102087444A | 公开(公告)日: | 2011-06-08 |
发明(设计)人: | 松冈康司;平户伸一;正乐明大;绿田宪史;德田刚;津幡俊英 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G02F1/1339 | 分类号: | G02F1/1339;G02F1/1337;G02F1/1335 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 液晶显示 面板 | ||
分案申请说明
本申请是申请日为2005年9月2日、申请号为200580030221.2(国际申请号PCT/JP2005/016565)的、题为“用于液晶显示面板的基板”的发明专利申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及一种用于液晶显示面板的基板,优选地,用作液晶显示设备的滤色器基板。具体地,本发明涉及一种用于液晶显示面板的基板,优选地,用作多畴垂直取向(MVA)模式的液晶显示设备等的滤色器基板。
背景技术
液晶显示设备通过使用在液晶显示面板中填充的液晶层来控制来自光源的光的光学特征,执行显示,并且因为诸如薄、轻和低能耗之类的特性,液晶显示设备用于各种领域。
大体上,作为此种液晶显示设备的主要构件的液晶显示面板具有这样的结构:将液晶夹在开关元件阵列基板和滤色器(CF)基板之间,并且通过基板之间排列的隔板(spacer)维持液晶层的厚度(单元间隙)。作为隔板,由塑料或无机材料等形成的球形隔板以及由树脂材料等形成的柱形隔板是公知的。优选地,将隔板选择性地排列在黑矩阵(black matrix)等上的光屏蔽区(显示区域以外),以便不会降低液晶显示设备的显示质量。在这一方面,因为将球形隔板散开以便大体上排列在基板上,需要较高的控制技术以便将所述球形隔板排列在所希望的位置。另一方面,可以通过使用光敏树脂等的光刻方法等在基板上直接形成柱形隔板。因此,在高精确度地排列方面更为优异。此外,通过此种光刻方法形成的柱形隔板也称作照片隔板(Photo Spacer:PS)。
传统上,在分别制造开关元件阵列基板和CF基板之后,通过取向处理工艺、两基板接合工艺、液晶填充工艺等来制造液晶显示面板。在这种情况下,通过真空注入方法来填充液晶。根据真空注入方法,在将开关元件阵列基板和CF基板接合之后,将接合的基板浸入液晶浴中,并且通过真空吸引在基板之间填充液晶。
然而,液晶显示面板近来变得更大,并且因此液晶填充方法从真空注入方法变化成一滴填充方法(one drop filling method)(落下点滴方法),以便缩短液晶填充时间。根据一滴填充方法,在将液晶滴落在一种基板上(通常,在CF基板上)之后,对开关元件阵列基板和CF基板进行接合。因此,即使在大尺寸的液晶显示面板的情况下,也可以在几分钟内填充液晶。另一方面,当使用一滴填充方法时,需要严格地控制滴落液晶的量,以便防止液晶层中的气泡等。并且,当在具有诸如PS这类的凸出结构的液晶显示面板中填充液晶时,需要精确地测量基板上的凸出结构的高度等,以在前地确定滴落到每一个单元上的液晶量。
例如,作为测量诸如PS之类的凸出结构的高度而不接触测量表面的方法,使用光干涉(白光干涉)的测量技术是公知的。当通过使用白光干涉的测量技术自动地测量凸出结构的高度时,在图像识别设备等的观看范围(测量区域)中在前地设定最典型的图案(定位部分)、定位部分和基准点(基点)之间的距离数据、以及定位部分和凸出结构的顶部之间的距离数据。因此,在测量时,测量头移动到测量区域以执行粗略的初始设定(粗对齐),然后搜索定位部分并且执行精确的初始设定。然后,基于事先设定的上述距离数据来规定凸出结构的顶部(坐标)和基准点。最后,在保持入射角恒定的状态下,从白光光源向凸出结构的附近照射光,形成干涉条纹。然后,通过测量干涉条纹之间的距离来测量基准点与凸出结构的顶部之间的高度差。
当通过此种测量设备自动地测量PS高度时,用于测量设备初始设定的定位部分必须存在于基板上。然而,当在用于液晶显示面板的基板的情况下,将基板上的凸出结构用作定位部分时,定位部分可能与其他图案相混淆,因为在基板上设置有诸如柱形隔板和用于取向控制的突出物之类的许多凸出结构。另外,需要精确地将定位部分排列在预定位置。例如,当将具有堆叠结构的PS(堆叠PS)用作定位部分时,因为每一个层的对齐偏移,通过白光干涉形成的堆叠PS的干涉条纹的结构随每次测量发生变化,这引起了高度测量设备的误操作。因此,当测量PS高度时,要求液晶显示面板的基板包括定位部分,所述定位部分可以适当地用在测量设备的初始设定中。
此外,在许多文件中公开了柱形隔板的构造,例如,已经公开了其中在黑矩阵上形成的堆叠PS的CF基板等。然而,并未描述提供在测量柱形隔板的高度时使用的定位部分(例如,参考专利文件1至8)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110064180.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。