[发明专利]检测机台、检测方法与检测系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测机台、检测方法与检测系统，且特别是涉及一种低成本及高合格率的检测机台、检测方法与检测系统。

背景技术

传统上为了对发光元件(如：发光二极管灯条)进行各种光学检测与电性检测，通常会设置各种光学检测与电性检测的机台，并通过将发光元件依序送入这些检测机台中，便可量测发光元件的光学性质与电性表现。具体而言，发光元件经由回焊炉后的余温目检判别为一站，并利用手动调整电源供应器及探针机构点灯，之后利用目检检测LED是否点亮及外观检验，如此高温状态无法确保，且一位目检人员仅检测一组发光元件的灯条。

在高温电性检测后进行低温电性检测时，需先将发光元件冷却，其采用方式可以是通过制作工艺移动或等待的时间做冷却，或加装风机等冷却装置(如此便需一站)。

再者，进行利用自动光学检测(Auto Optic Inspection，AOI)对发光元件进行外观检测时，通常是用来检测发光元件偏位缺焊等问题，其中此AOI检测通常为自动化机台。

再者，进行利用自动光学检测对发光元件进行光学检测时，通常是用来检测发光元件的光学特性，其中此光学检测通常为自动化机台。

之后，进行低温电性检测也是通过目检判别的方式，因此此部分又为一站，且电性检测的方式也是采用手动调整电源供应器及手持式探针点灯，并利用目检检测发光元件是否点亮及外观检验。

基于上述可知，若欲将发光元件进行高温检测与低温检测时便需经过多个站别，因此这些机台所占具有许多空间，意即检测发光元件的生产线便无法被缩短。

发明内容

本发明的目的在于提供一种检测机台，其具有低成本、自动化、高合格率及整体体积较小的优点。

本发明另一目的在于提供一种检测方法，其适用于上述的检测机台。

本发明又一目的在于提供一种检测系统，其适用于上述的检测机台。

为达上述目的，本发明提出一种检测机台，其适于对一发光元件进行光学及电性检测。此检测机台包括一基板平台、一探针机构、一加热装置、一冷却装置、一影像感测装置、一光学检测装置、一感温装置以及一移动台。发光元件配置于基板平台上。探针机构设置于基板平台上方，且探针机构适于往基板平台靠近而与发光元件接触。加热装置设置于基板平台的下方并适于加热发光元件，以使发光元件维持于一第一温度范围内。当发光元件处于第一温度范围内时，与发光元件接触的探针机构适于传递一第一驱动信号至发光元件，以驱动发光元件。冷却装置设置于基板平台的下方并适于冷却发光元件，以使发光元件维持于一第二温度范围内。当发光元件处于第二温度范围内时，与发光元件接触的探针机构适于传递一第二驱动信号至发光元件，以驱动发光元件。影像感测装置设置于发光元件的上方并适于感测发光元件被驱动时所产生的一发光影像及其外观。感温装置设置于发光元件的上方，用以感测发光元件目前的一温度。移动台设置于发光元件的上方，且影像感测装置装设于移动台上，其中移动台适于移动影像感测装置。

在本发明的一实施例中，基板平台包括一输送带装置，适于承载并传送发光元件。

在本发明的一实施例中，加热装置包括一加热块或加热板。

在本发明的一实施例中，第一温度范围实质上落在摄氏120度与摄氏200度之间。

在本发明的一实施例中，冷却装置包括一循环水系统或一喷气系统

在本发明的一实施例中，第二温度范围实质上落在摄氏20度与摄氏70度之间。

在本发明的一实施例中，第二驱动信号大于小于第一驱动信号。

在本发明的一实施例中，影像感测装置包括一线扫描式电荷耦合元件(Line Scan CCD)。

在本发明的一实施例中，检测机台还包括一电源供应装置，电连接探针机构并提供第一驱动信号或第二驱动信号。

在本发明的一实施例中，检测机台还包括一光学检测装置，设置于发光元件的上方并装设于移动台上，其中移动台适于移动光学检测装置，且光学检测装置适于感测发光元件被驱动时所产生的光学特性做量测。

在本发明的一实施例中，检测机台还包括一第一移动装置与一第二移动装置，其中第一移动装置位于基板平台的上方并适于移动探针机构，以使探针机构往基板平台靠近或远离，第二移动装置位于基板平台的下方并适于移动加热装置与冷却装置，以使加热装置与冷却装置其一往基板平台靠近。

在本发明的一实施例中，检测机台还包括至少一吹气机构，位于基板平台的一侧或二侧，其中吹气机构适于提供一气流于发光元件上，以冷却发光元件。