[发明专利]SoC测试中的基于平均值余量的测试封装扫描链平衡方法

说明书

技术领域

本发明涉及系统芯片(SoC)测试技术领域。

背景技术

在工程设计中引入“系统芯片”(System-on-Chip，SoC)可以简化设计，缩短产品上市时间，并且增加系统稳定性。然而随着SoC规模增大，SoC测试逐渐成为其制造过程中的瓶颈，SoC测试费用也不断增加。而SoC测试时间则是影响SoC测试成本和效率的重要因素。

SoC测试通常包括三部分：测试访问机制(TAM)、测试封装(Wrapper)、测试调度(Scheduling)。测试访问机制描述IP(Intellectual Property)核的测试端口如何被外界访问，测试封装则是为IP核外加一层接口以实现特定的TAM，最后测试调度描述了IP核测试的先后顺序。

文献Vikram Iyengar，Krishnendu Chakrabarty and Erik Jan Marinissen，Test Wrapper andTest Acces Mechanism Co-Oprimization for System-on-Chip(针对SoC的测试封装及测试访问机制的联合优化)Internationl Test Conference 2001，该文献中提出了一种基于BFD(BestFit Decrease)的算法，该BFD算法最初被设计用于解决装箱问题。该方法提出比较早，而且具有运行效率高、结构简单等优点，因此被广泛采用。该方法的缺点是：BFD算法并不具备全局优化的能力。运用该方法将IP核内部扫描链逐条添加到Wrapper扫描链上时，只考虑当前每条Wrapper扫描链长度，而没有一个全局性的指导原则。因此BFD算法最后得到的是局部最优解，而在某些情况下，局部最优解不等同于全局最优解。该文献所介绍的方法具有简单、高效的优点，但不具备全局优化的能力。

为了克服上述基于BFD算法的不具有全局优化这一缺点，文献Niu Daoheng，WangHong，Yang ShiYuan，Cheng BenMao，Jin Yang，Re-Optimization Algorithm for SoCWrapper-Chain Balance Using Mean-Value Approximation(基于平均值近似的SoC扫描链平衡算法)Tsinghua Science and Technology 2007 July P61～66提出一种基于平均值的Wrapper扫描链平衡算法实现SOC测试的方法。对于一个特定的IP核及给定的Wrapper扫描链数目，该算法首先计算Wrapper扫描链长度平均值，然后以这个Wrapper扫描链长度平均值作为全局指导原则，将内部扫描链分别添加到Wrapper扫描链上。因此，对于某给定的IP核，按照基于平均值的Wrapper扫描链平衡算法，最理想的结果就是最后每条Wrapper扫描链长度均相等且等于其平均值。但是在实际处理问题过程中，最后Wrapper扫描链很少有机会每条均相等且等于平均值。更实际的情况是，Wrapper扫描链的最终长度在其平均值附近波动，波动大小由Wrapper扫描链平衡算法及IP核的内部扫描链长度等因数共同决定。

另外上述的基于平均值的Wrapper扫描链平衡算法实现SOC测试的方法并不总是优先处理当前最长内部扫描链，这样做带来诸多弊端。该种方法虽然具有全局优化的能力，但是它并不总是优先处理当前最长内部扫描链，而且其全局优化的指导原则并不贴近实际情况。

发明内容

针对现有SoC测试中的测试封装扫描链平衡方法中存在的不足，本发明提供了一种SoC测试中的基于平均值余量的测试封装扫描链平衡方法。

本发明所述的SoC测试中的基于平均值余量的测试封装扫描链平衡方法的过程为：

首先，计算Wrapper扫描链长度平均值；

然后，根据获得的长度平均值确定误差限，所述误差限为所述长度平均值的1％至3％；

最后，根据所述误差限及Wrapper扫描链长度平均值计算得到取值区间，把该取值区间作为全局优化的指导原则，实现测试封装扫描链平衡。

上述计算Wrapper扫描链长度平均值的过程可以为：

步骤A1、根据公式获得IP核内部扫描链长度之和L_sum；L是所有IP内部扫描链的集合，L₁表示集合L内的第一个元素，len(L)表示集合L内元素的数目，L_len(L)表示集合L内最后一个元素；