[发明专利]一种用于植物滞留系统结构优化的正交实验插值分析法无效
| 申请号: | 201110054444.X | 申请日: | 2011-03-07 |
| 公开(公告)号: | CN102175836A | 公开(公告)日: | 2011-09-07 |
| 发明(设计)人: | 杨晓华;姜荣;美英;郭亚男;张学君 | 申请(专利权)人: | 北京师范大学 |
| 主分类号: | G01N33/24 | 分类号: | G01N33/24 |
| 代理公司: | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人: | 王顺荣;唐爱华 |
| 地址: | 100875 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 植物 滞留 系统 结构 优化 正交 实验 分析 | ||
1.一种用于植物滞留系统结构优化的正交实验插值分析方法,其特征在于:该方法具体步骤如下:
步骤一:根据经验确定植物滞留系统结构三种介质结构即介质配比、高度、覆盖层和在四种水平下即介质配比:1∶8∶1,1∶1∶8,8∶1∶1,2∶4∶4;高度:20cm,50cm,70cm,100cm;覆盖层:树皮,干草,蛭石,陶粒对去氮效果的影响;
步骤二:对于多因素多指标植物滞留系统结构组成采用正交表法设计实验方案,进行正交实验模拟,分别测定不同植物滞留系统结构组成下的去氮效率;
步骤三:以步骤二中测定的数据为基础,分别确定四种覆盖层下植物滞留系统去氮效率,并根据不同的影响效果确定四种覆盖层的组成比例,设计新的覆盖层,采用matlab实现运用艾特肯插值法分析不同介质配比、高度和覆盖层组成下植物滞留系统去氮效率;
步骤四:根据正交实验插值分析法测定的不同结构组成下植物滞留系统去氮效率,比较确定植物滞留系统最优结构组成。
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