[发明专利]一种低维材料微扭转力学性能测试装置

权利要求书

1.一种低维材料微扭转力学性能测试装置，其特征在于，该装置包括机架（1）、力传感器（16）、微扭矩传感器、扭丝转角测量组件、上夹头（7）、下夹头（5）、步进电机（4）、三维平移台（2）、丝杠螺母组件（3）、伺服控制器（17）、A/D采集卡（18）和计算机系统（19）；微扭矩传感器包括扭丝（14）、支架（8）、矩形框（10）、上扭丝固定块（15）和下扭丝固定块（9）；扭丝（14）张紧固定在支架（8）上，两端分别用上扭丝固定块（15）和下扭丝固定块（9）压紧，矩形框（10）悬挂固定于扭丝（14）的中部；

微扭矩传感器的支架（8）通过力传感器（16）悬挂固定在机架（1）的上端，上夹头（7）采用扣件的方式连接在矩形框（10）的下端，下夹头（5）安装在步进电机（4）的主轴上，上夹头（7）与下夹头（5）用于夹持试样（6），步进电机（4）安放在三维平移台（2）上，三维平移台（2）安装在丝杠螺母组件（3）上，丝杠螺母组件（3）固定在机架（1）的底部；

所述的伺服控制器（17）与步进电机（4）电连接；A/D采集卡（18）用于对扭丝（14）转角和轴向拉力的数据采集，伺服控制器（17）和A/D采集卡（18）均与计算机系统（19）电连接。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，扭丝转角测量组件由一维平移台（11）、光电位移传感器（12）和光靶（13）组成，一维平移台（11）安装在机架（1）的侧面支板上，光电位移传感器（12）安放在一维平移台（11）上，光靶（13）固定在矩形框（10）和扭丝（14）的连接处，并和扭丝（14）保持在同一平面，并且光靶（13）对着光电位移传感器（12）的出光口，光电位移传感器（12）的发射光束A打在光靶（13）上。