[发明专利]一种NAND Flash存储芯片ECC校验算法的识别方法

权利要求书

1.一种NAND Flash存储芯片ECC校验算法的识别方法，其特征在于，包括以下步骤：

一、根据已知的ECC校验码字段长度必须大于等于可能采用的ECC校验算法生成的校验码长度的原则推测匹配的ECC校验算法；

二、对步骤一的推测结果进行验证，并确定标准ECC校验码和存储ECC校验码之间的对应关系，如不正确则继续对下一个推测结果进行验证；

三、利用上述识别的ECC校验算法以及标准ECC校验码和存储ECC校验码之间的对应关系，检验物理镜像文件中每个物理页的数据是否有错误，如果有，则将其存储的ECC校验码按比特转换成标准ECC校验码的形式，利用对应ECC校验算法的纠错算法进行错误数据的定位和纠错。

2.根据权利要求1所述的一种NAND Flash存储芯片ECC校验算法的识别方法，其特征在于，所述对步骤一的推测结果进行验证，并确定标准ECC校验码和存储ECC校验码之间对应关系的方法为：

(1)随机生成一些数据文件存储到目标手机的内置NAND Flash芯片上，分别获取NAND Flash芯片的物理镜像文件和逻辑镜像文件并计算它们有效数据的MD5值，根据相同数据段MD5值相等的原则查找每一个逻辑页对应的物理页，记录下逻辑页号、物理页号及对应的spare area元数据内容；

(2)分析目标NAND Flash芯片的逻辑镜像文件内容，确定某个随机数据文件的位置，即文件所在的逻辑页号，记为log_num；根据逻辑页号log_num查找并读取对应物理页的spare area内容；

(3)将读指针定位到NAND Flash芯片逻辑镜像文件的log_num*512字节位置处，读取一定数量的有效数据，采用上述推测出的ECC校验算法计算该有效数据的ECC校验码；

(4)将计算得到的ECC校验码与从物理镜像的相应物理页中读出的ECC校验码进行对比，如果完全一致则说明推测的ECC校验算法正确；如果不完全一致则继续执行步骤(5)；

(5)找出存储的ECC校验码和标准ECC校验码各比特之间存在的对应关系：

(i)从NAND Flash芯片逻辑镜像文件的log_num*512字节位置开始，根据推测的ECC校验算法连续计算多个逻辑页的标准ECC校验码；统计所有校验码每比特值为1的个数；

(ii)对标准ECC校验码的每比特统计结果进行排序A并记录下每比特数据在标准ECC校验码中的位置；

(iii)从记录NAND Flash芯片逻辑页号、物理页号及其对应spare area内容的文件result.txt中读取与上述多个逻辑页对应的物理页内存储的ECC校验码数据，同样统计每比特值为1的个数；

(iv)对统计结果进行排序B并记录下每比特数据在存储的ECC校验码中的位置；

(v)比较排序结果A和B，找出两种ECC校验码中统计结果相等的比特位，从而得到标准ECC校验码和存储的ECC校验码的一一对应关系；如果在查找对应关系的过程中，出现少部分比特位不能一一对应的情况，则说明物理镜像文件中存储的ECC校验码有错误，此时需增加log_num的值，从第(i)步起重复上述过程，直到可以确定标准ECC校验码和存储的ECC校验码的对应关系；如果二者之间不存在所有比特位一一对应的情况或者大多数比特位不能对应的情况则说明推测出的ECC校验算法错误，那么需要验证其它可能的ECC校验算法。

3.根据权利要求2所述的一种NAND Flash存储芯片ECC校验算法的识别方法，其特征在于，步骤(i)中为了保证统计结果能够均匀分布，计算逻辑页ECC校验码的页个数大于1000。