[发明专利]光学器件和光学设备

说明书

技术领域

本发明涉及具有除尘能力的光学器件以及使用该光学器件的光学设备。

背景技术

许多单透镜反光数码相机(single lens reflex digital camera)被配置为使用可更换透镜，因此当用另外一个透镜更换当前的附属透镜时，半镀银镜(half-silvered mirror)或者其它结合在数码相机内的光学器件暴露在空气中。因此空气中的灰尘和其它污物粘附到半镀银镜表面。粘附到半镀银镜表面的灰尘和其它污物在图像中形成阴影，并且因此不利地导致图像质量的下降。

为了应对该问题，已提出以下技术：沿光学器件的外围设置压电器件，将AC电压施加到压电器件以使其振动。因此光学器件振动并且清除其上的灰尘和其它污物(例如，参见JP-A-2003-319222，图5及其它附图)。

发明内容

图15示出JP-A-2003-319222(对应于JP-A-2003-319222中的图5)中描述的具有防尘能力的光学器件的构造。JP-A-2003-319222(防尘过滤器121)中描述的防尘能力依靠(沿光学器件的外围设置的)压电器件122，如图15所示。当沿光学器件的外围设置压电器件122时，防尘过滤器121的外形尺寸相应地增加，因此光学器件自身的外形尺寸(特别是外围尺寸)由于压电器件122而不利地增加。

因此，期望提供一种光学器件，能够清除灰尘和其它污物，而不增加光学器件的外形尺寸(特别是外围尺寸)。

根据本发明实施方式的光学器件包括：光学器件主体；第一透明电极膜，沉积在光的入射侧；第二透明电极膜，被形成为与第一透明电极膜互相面对；以及第一铁电膜(ferroelectric film)，至少沉积在第透明电极膜一和第二透明电极膜之间，并且第一铁电膜响应于通过第一透明电极膜和第二透明电极膜施加的驱动电压而振动。

根据本发明的另一实施方式的光学设备包括：光学器件主体；第一透明电极膜，沉积在的入射侧；第二透明电极膜，被形成为与第一透明电极膜互相面对；第一铁电膜，至少沉积在第透明电极膜一和第二透明电极膜之间，并且第一铁电膜响应于通过第一透明电极膜和第二透明电极膜施加的驱动电压而振动；以及产生驱动电压的电源。

根据本发明的实施方式，在光学器件中形成铁电膜，在铁电膜的两侧都设置透明电极膜，并且将所得到的结构层压到光学器件主体上，允许光学器件振动而不增加其外形尺寸(特别是外围尺寸)。

根据本发明的实施方式，可以清除灰尘和其它污物而不增加光学器件的外形尺寸(特别是外围尺寸)。因此，使用该光学器件的光学设备不具有增大的外形尺寸。

附图说明

图1为示出根据本发明的第一实施方式的包括半镀银镜的成像装置的示意构造的方框图；

图2为示出根据本发明的第一实施方式的半镀银镜的构造的截面图；

图3A和3B示出根据本发明的第一实施方式的半镀银镜是如何布线的，图3A为半镀银镜的俯视图，图3B为半镀银镜的截面图；

图4A和4B为现有技术的半镀银镜的俯视图和截面图；

图5为示出根据本发明的第一实施方式的半镀银镜的变形例1的截面图；

图6为示出根据本发明的第一实施方式的半镀银镜的变形例2的截面图；

图7为示出根据本发明的第一实施方式的半镀银镜的变形例3的截面图；

图8示出防尘处理前和防尘处理后，粘附在图7所示的半镀银镜的表面上的灰尘；

图9为表示施加的电压频率和除尘率之间关系的曲线图；

图10为半镀银镜的俯视图，并且示出在防尘处理后的其表面；

图11为示出根据本发明的第二实施方式的透镜的构造截面图；

图12为示出根据本发明的第三实施方式的反射镜的构造的截面图；

图13为示出根据本发明的第四实施方式的偏振器件的构造的截面图；

图14为示出根据本发明的第五实施方式的光学滤光器的构造的截面图；以及

图15描述现有技术。

具体实施方式

在以下将参考附图描述实施本发明的示例性模式。将按照以下项目的顺序进行描述：

1.第一实施方式(应用本发明的光学器件是半镀银镜(half-silveredmirror)的情况)

2.第二实施方式(应用本发明的光学器件是透镜的情况)

3.第三实施方式(应用本发明的光学器件是反射镜的情况)

4.第四实施方式(应用本发明的光学器件是偏振器件的情况)

5.第五实施方式(应用本发明的光学器件是光学滤光器的情况)

<1.第一实施方式>