[发明专利]从坩埚中所含的熔体拉伸由硅组成的单晶的方法及由此制得的单晶有效

专利信息
申请号: 201110037562.X 申请日: 2011-02-10
公开(公告)号: CN102146583A 公开(公告)日: 2011-08-10
发明(设计)人: E·格梅尔鲍尔;R·沃布赫纳;M·韦伯 申请(专利权)人: 硅电子股份公司
主分类号: C30B15/00 分类号: C30B15/00;C30B29/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 过晓东
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 坩埚 拉伸 组成 方法 由此
【权利要求书】:

1.用于从坩埚(4)中所含的熔体(11)拉伸由硅组成的单晶(9)的方法,其中单晶(9)在拉伸期间被挡热板(2)包围,挡热板的下端(3)与熔体(11)的表面具有距离(h),其中气体在单晶(9)与挡热板(2)之间的区域内向下流动(10),在挡热板(2)的下端(3)与熔体(11)之间向外流动,及接着在挡热板(2)以外的区域内又向上流动,其特征在于,挡热板(2)在其下端(3)的内径(DHS)比单晶(9)的直径(DSC)大至少55mm,而挡热板(2)在其下端(3)的径向宽度(BHSU)不大于单晶(9)的直径(DSC)的20%。

2.根据权利要求1的方法,其特征在于,单晶(9)、坩埚(4)和挡热板(2)设置在一个室中,而气体流量与所述室内的压力的比例在20至500(L/h)/mbar的范围内。

3.根据权利要求2的方法,其特征在于,气体流量在500至8000L/h的范围内。

4.根据权利要求2的方法,其特征在于,压力在10至80mbar的范围内。

5.根据权利要求1至4之一的方法,其特征在于,坩埚(4)和单晶(9)方向相反地旋转(15,16),而坩埚(4)的转速为0.25至25rpm。

6.根据权利要求1至5之一的方法,其特征在于,挡热板(2)的下端(3)与熔体(11)之间的距离(h)在10至40mm的范围内。

7.根据权利要求1至6之一的方法,其特征在于,坩埚(4)的内径(DTI)为单晶(9)的直径(DSC)的2至4倍。

8.根据权利要求1至7之一的方法,其特征在于,在坩埚(4)的内侧的表面上涂覆有钡化合物。

9.由硅组成的单晶,其具有至少为100mm的直径及(100)或(111)的晶体取向,周期表第III或V主族的元素的掺杂剂浓度为1×1017至1×1020cm-3,氧浓度为4×1017至9×1017cm-3,其特征在于,在该单晶中直径至少为50μm的空隙的浓度不大于50m-3

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