[发明专利]一种手写原笔迹的实现方法

权利要求书

1.一种手写原笔迹的实现方法，其特征在于，包括对两相交笔划的交点的处理步骤：

确定笔宽：对笔迹进行连续采样，根据采样时间顺序确定相邻的采样点，以前一个采样点为采样起点，以后一个采样点为采样终点，并检测出相应采样点的压力值以及位置信息，根据采样点各自的压力值确定各自的实际笔宽；

主线设定：将所述采样起点和采样终点的连线作为两点间笔划的中心线，获取中心线上各点的位置信息及对应的纵向笔宽，并将两相交笔划中心线的其中一条设定为x轴方向上的主线；

判断处理：根据所述两相交笔划的中心线上各点的位置信息和纵向笔宽，以及所述两相交笔划的中心线的斜率和所述两相交笔划的走向，计算所述两相交笔划交点处相应像素点的填充灰度值；

显示：根据所述填充灰度值对相应的像素点进行填充并显示出来。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述主线设定步骤包括：按时间顺序将两相交笔划分别确定为第一笔划和第二笔划，并将所述第一笔划的中心线设定为x轴方向的主线。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述判断处理步骤包括：判断所述第二笔划的中心线斜率的绝对值是否小于预设斜率值A，若是，进一步判断所述第二笔划的走向是否与所述第一笔划的走向相同，若是，则计算出两相交笔划对应的中心线交点在所述第一笔划和所述第二笔划中所对应的纵向笔宽w_j和w_j′，并得到其差值的绝对值n＝|w_j-w_j′|，根据n值及w_j和w_j′的大小关系，对所述中心线交点处进行平滑过渡处理，然后计算所述两相交笔划交点处相应像素点的填充灰度值。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述判断处理步骤包括：判断所述第二笔划中心线斜率的绝对值是否大于等于预设斜率值A，若是，则在两相交笔划的交点处，以所述两相交笔划的中心线交点为圆心，以所述中心线交点所对应的实际笔宽d_j为半径确定两半圆，其中一个半圆的起始点和终点都在第一笔划的纵向笔宽w_j上，另一半圆的起始点和终点都在第二笔划的纵向笔宽w_j′上，然后分别计算所述半圆所确定的像素点的填充灰度值。

5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述判断处理步骤包括：若判断出所述第二笔划的中心线斜率的绝对值小于预设斜率值A，但所述第二笔划的走向与所述第一笔划的走向不同，则进一步判断所述第一笔划的中心线和所述第二笔划的中心线斜率的大小，在所述两相交笔划的交点处，以所述两相交笔划的中心线交点为圆心，以所述中心线交点所对应的实际笔宽d_j为半径确定一半圆，所述半圆的起点和终点都在斜率大的笔划在交点处的纵向笔宽上，然后计算所述半圆所确定的像素点的填充灰度值。

6.如权利要求3所述的方法，其特征在于，根据n值及所述w_j和w_j′的大小关系，对所述交点处进行包括如下步骤的平滑过渡处理：

判断n值是否为0，若是，则对所述交点不做任何处理，否则，将n值取整，且在0＜n＜1时，将其取为1，取y轴上的单位步长为

以所述中心线交点在x轴上所对应的点为中点，以靠近所述第一笔划一侧的第或者个点为起始点，以靠近所述第二笔划一侧的第或者个点为终点；

以w_j为初始值，在x轴上以所述起始点为起点，每向所述终点移动一个单位长度，在中心线上对应的点的纵向笔宽w_r+1为前一个点的纵向笔宽w_r在中心线的上下两侧分别加或者减单位步长

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，计算所述两相交笔划交点处相应像素点的填充灰度值的公式为直线填充公式：max(0，min(1.0，0.5×w_r-e_r+0.5))，其中，w_r为中心线上相应点r的纵向笔宽，e_r为相应的像素点到所述点r的距离。