[发明专利]光纤全息干涉测量装置有效

专利信息
申请号: 201110032883.0 申请日: 2011-01-31
公开(公告)号: CN102183490A 公开(公告)日: 2011-09-14
发明(设计)人: 黄素娟;付兴虎;王廷云 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 何文欣
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光纤 全息 干涉 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种光纤全息干涉测量装置,包括一个可调谐激光光源(1)、一个单模光纤耦合器(2)、一个压电陶瓷筒(7)、一个第一偏振控制器(8)、一个第二偏振控制器(9)和一个图像采集模块(11),其特征在于所述可调谐激光光源(1)连接单模光纤耦合器(2)的输入端,所述单模光纤耦合器(2)的两个输出端子(A、B)分别通过第一光纤(3)依次连接压电陶瓷筒(7)、第一偏振控制器(8)和第二光纤(4)构成全息干涉参考臂,通过第三光纤(5)依次连接第二偏振控制器(9)、第四光纤(6)和特种光纤(10)构成全息干涉信号臂,所述第二光纤(4)和特种光纤(10)的输出光波叠加构成同轴全息干涉区域(12)或离轴全息干涉区域(13),并被图像采集模块(11)所接收。

2.根据权利要求1所述的光纤全息干涉测量装置,其特征在于所述可调谐激光光源(1)的波长为1550 nm。

3.根据权利要求1所述的光纤全息干涉测量装置,其特征在于所述第一光纤(3)、第二光纤(4)、第三光纤(5)和第四光纤(6)均为单模光纤。

4.根据权利要求1所述的光纤全息干涉测量装置,其特征在于所述特种光纤(10)为双包层结构光纤,或者为三包层结构光纤。

5.根据权利要求1所述的光纤全息干涉测量装置,其特征在于所述同轴全息干涉区域(12)、离轴全息干涉区域(13)的干涉条纹相位差和可见度分别由所述压电陶瓷筒(7)的形变量和第一偏振控制器(8)或第二偏振控制器(9)控制。

6.根据权利要求1或5所述的光纤全息干涉测量装置,其特征在于所述离轴全息干涉区域(13)的范围由第二光纤(4)和特种光纤(10)之间的夹角控制。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海大学,未经上海大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110032883.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top