[发明专利]一种GaN基发光二极管以及制作方法有效

专利信息
申请号: 201110027944.4 申请日: 2011-01-26
公开(公告)号: CN102157657A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 江灏;王钢;黄善津 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: H01L33/32 分类号: H01L33/32;H01L33/04;H01L33/00
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 张春耀
地址: 510275 *** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 gan 发光二极管 以及 制作方法
【权利要求书】:

1.一种GaN基发光二极管,其特征在于:在外延衬底(1)上利用半导体沉淀技术依次生长有初始生长层(2)、缓冲层(3)、n型电子注入层(4)、量子阱结构电子发射层(5)、量子阱结构发光有源层(6)、p型电子阻挡层(7)和p型空穴注入层(8);

所述量子阱结构发光有源层(6)为AliInjGa1-i-jN势垒层(61)和AlxInyGa1-x-yN量子阱层(62)交错堆叠的量子阱或多量子阱结构,且0≤i≤1,0≤j≤1,0≤i+j≤1,0≤x≤1,0≤y≤1,0≤x+y≤1,并且AliInjGa1-i-jN势垒层(61)的禁带宽度大于AlxInyGa1-x-yN量子阱层(62)的禁带宽度;

所述量子阱结构电子发射层(5)为AlkIn1Ga1-k-1N势垒层(51)和AlmInnGa1-m-nN量子阱层(52)交错堆叠的量子阱或多量子阱结构,且0≤k≤1,0≤1≤1,0≤k+1≤1,0≤m≤1,0≤n≤1,0≤m+n≤1;并且AlkIn1Ga1-k-1N势垒层(51)的禁带宽度总大于AlmInnGa1-m-nN量子阱层(52)的禁带宽度,AlmInnGa1-m-nN量子阱层(52)的禁带宽度大于发光有源层(6)中AlxInyGa1-x-yN量子阱层(62)的禁带宽度;

所述AlkIn1Ga1-k-1N(51)势垒层和AlmInnGa1-m-nN量子阱层(52)的Al组份或In组份在垂直于外延衬底(1)生长面方向上逐渐变化,从而使AlkIn1Ga1-k-1N(51)势垒层和AlmInnGa1-m-nN量子阱层(52)在能带结构上各自具有或组合后具有三角型特征。

2.根据权利要求1所述的GaN基发光二极管,其特征在于:所述量子阱结构电子发射层(5)的AlkIn1Ga1-k-1N势垒层(51)的厚度为5nm~20nm,AlmInnGa1-m-nN量子阱层(52)的厚度为1nm~5nm;所述AlkIn1Ga1-k-1N势垒层(51)和AlmInnGa1-m-nN量子阱层(52)的Al组份或In组份在垂直于外延衬底(1)生长面方向上逐渐变化,In组份或Al组份渐变的区域部分覆盖或全部覆盖所述势垒层(51)和量子阱层(52);所述势垒层(51)和量子阱层(52)为非掺、n型掺杂或p型掺杂,其掺杂浓度为0~1×1019/cm3;所述量子阱结构电子发射层(5)的堆叠量子阱的周期数为1~20。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中山大学,未经中山大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110027944.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top