[发明专利]一种制备多晶硅薄膜的方法无效
申请号: | 201110022936.0 | 申请日: | 2011-01-21 |
公开(公告)号: | CN102041552A | 公开(公告)日: | 2011-05-04 |
发明(设计)人: | 羊亿;李广;左敏 | 申请(专利权)人: | 湖南师范大学 |
主分类号: | C30B29/06 | 分类号: | C30B29/06;C30B25/02;C23C16/24;C23C16/02 |
代理公司: | 长沙星耀专利事务所 43205 | 代理人: | 赵静华 |
地址: | 410081*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 制备 多晶 薄膜 方法 | ||
1.一种制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,在制备多晶硅薄膜前先沉积一层金属做为诱导层,使诱导生长与晶化同时进行。
2.根据权利要求1所述的制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)金属诱导生长层的制备:在衬底上采用磁控溅射或真空热蒸发方法,制备一层厚度为1~10纳米的金属诱导生长层;
(2)等离子增强化学气相沉积:将镀有金属诱导生长层的衬底置于等离子增强化学气相沉积系统中,采用高氢稀释硅烷作为反应气体,沉积多晶硅薄膜。
3.根据权利要求2所述的制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,所述衬底是FTO、ITO、AZO透明导电玻璃或FTO、ITO、AZO透明导电柔性材料。
4.根据权利要求2所述的制备多晶硅薄膜的方法,其特征在于,所述金属诱导生长层制备中的金属为Ni、Cu、Al、Au、Pd、Ag或Pt。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湖南师范大学,未经湖南师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110022936.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:缝纫机的剪线装置
- 下一篇:一种储罐内专用参比电极