[发明专利]电子式分析装置、测试分析方法以及试剂盒

权利要求书

1.一种电子式分析装置，其用以检测一测试纸的分析结果，该装置包括：

一电路板，包括：

一第一光源，用以照射于该测试纸上的一测试区；

一第二光源，用以照射于该测试纸上与该测试区空间区隔的一控制区；

唯一光感测单元，其设于该第一光源与该第二光源间，且用以轮流检测测试区和控制区的反射光并获得相对应的信号；及

一微处理器，用以接收由光感测单元传送的信号并计算该信号以获得一结果值；

其中该微处理器比对该结果值与一界定值并获得一输出信号，假如该结果值超过该界定值则显示第一种结果，相反地，若该结果值低于该界定值则该输出信号显示第二种结果。

2.如权利要求1所述的电子式分析装置，其特征在于，该电子式分析装置进一步包括一遮蔽单元，该遮蔽单元与该电路板连接且包括多个遮盖物而分隔多个开口相对应于该第一光源、该光感测单元以及该第二光源。

3.如权利要求2所述的电子式分析装置，其特征在于，所述多个遮盖物包括一第一遮盖物、一第二遮盖物、一第三遮盖物及一第四遮盖物，其中该第一遮盖物和第二遮盖物分别设于该第一光源和第二光源的外侧而用以阻挡外部光源，其中该第三遮盖物和该第四遮盖物分别设于该第一遮盖物和该第二遮盖物间，该第三遮盖物和该第四遮盖物所分隔的三个开口相对应于该第一光源、该光感测单元和该第二光源。

4.如权利要求3所述的电子式分析装置，其特征在于，该遮蔽单元进一步包括一阻挡单元，其用以防止由该第一光源和该第二光源的直射光，其中该阻挡单元区隔出两缝隙分别形成设于该第三遮盖物和该阻挡单元上方以及该阻挡单元和第四遮盖物上方，而使得该光感测单元检测由测试区和控制区的反射光。

5.如权利要求4所述的电子式分析装置，其特征在于，该电子式分析装置进一步包括一退片单元，该退片单元与该遮蔽单元相组合而用以退出该测试纸，其中该电路板进一步包括一开关单元，该开关单元与该退片单元相配合而在测试纸插入该装置时用以启动该微处理器。

6.如权利要求1所述的电子式分析装置，其特征在于，该第一光源和第二光源发射绿光、蓝光或黄绿光而分别照射测试区和控制区的红色呈色工具，且该电子式分析装置进一步包括：

一外壳，包覆该电路板；及

一显示单元，用以显示根据该微处理器计算的结果。

7.如权利要求1所述的电子式分析装置，其特征在于，该微处理器计算该控制区和该测试区信号的一差异值，其中该差异值由以下方程式计算获得：

R＝(T_max-T_min)/(C_max-C_min)；

D_f＝C_b-(T_b*R)；以及

V＝T_final*R+D_f-C_b

其中R为差异比例；

T和C分别代表测试区和控制区的测量；

max为检测最大值；

min为检测最小值；

b为检测背景值；

D_f为偏移值；

final为最终检测值；以及

V为结果值；

其中该T_b和C_b于检体吸入测试纸前检测。

8.如权利要求1所述的电子式分析装置，其特征在于，该微处理器一次开启其中一光源以使测试区和控制区在任何时间内仅有其中之一被照射且该光感测单元于检体吸入后一段特定时间期内相间隔检测测试区和控制区一连串的读值。