[发明专利]QFN芯片重力式测试装置无效
| 申请号： | 201110008865.9 | 申请日： | 2011-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN102175960A | 公开（公告）日： | 2011-09-07 |
| 发明（设计）人： | 崔学峰;贺怀珍 | 申请（专利权）人： | 上海微曦自动控制技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市张江高科*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | qfn 芯片 重力 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种重力式测试分选机的测试装置；至少包括本体，所述本体上设置有第一气缸、两导轨滑块、弹簧、导柱、挡块；其特征在于：所述本体上还设置有真空吸杆；所述真空吸杆的首端设置有定位槽，所述真空吸杆的尾端设置有第二气缸。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述定位槽的上方设置有导轨块。
3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：利用所述真空吸杆吸附芯片产品的一侧面，所述测试装置适用于四面具有管腿的芯片产品。
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