[发明专利]光分路器性能测试系统无效
| 申请号: | 201110003433.9 | 申请日: | 2011-01-10 |
| 公开(公告)号: | CN102594443A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
| 发明(设计)人: | 罗志祥;杨开发 | 申请(专利权)人: | 上海坤腾光电科技有限公司 |
| 主分类号: | H04B10/08 | 分类号: | H04B10/08 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 201607 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 分路 性能 测试 系统 | ||
1.一种光分路器性能测试系统,其特征在于:它由一台多波长光源(1)、一个偏振控制器(2)、一个带纤分支器(3)、一台多通道光功率计(4)、一台计算机(5)和一套测试管理软件组成,计算机(5)控制信号线连接多波长光源(1),多波长光源(1)输出的光源通过光纤和偏振控制器(2)引出一个光源输出端口;带纤分支器(3)的带纤端是光源输入端口,带纤分支器(3)裸纤端的每根光纤都分别连接到多通道光功率计(4)的每个通道上;多通道光功率计(4)通过数据线连接计算机(5)的信号输入端口。
2.根据权利要求1所述的光分路器性能测试系统,其特征在于:所述的多波长光源中装备1310nm、1490nm和1550nm三个波长的半导体激光器(6、7、8)。
3.根据权利要求1或2所述的光分路器性能测试系统,其特征在于:所述的多通道光功率计(4)有32路光纤输入通道。
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