[发明专利]一种CCD光电参量的测试方法无效
申请号: | 201110002951.9 | 申请日: | 2011-01-09 |
公开(公告)号: | CN102116830A | 公开(公告)日: | 2011-07-06 |
发明(设计)人: | 乔闹生 | 申请(专利权)人: | 湖南文理学院 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 常德市长城专利事务所 43204 | 代理人: | 蔡大盛 |
地址: | 415000 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 ccd 光电 参量 测试 方法 | ||
1.一种CCD光电参量的测试方法,其特征是:采用硬件系统与软件系统相接合的方法对CCD的光电参量进行测试;所述硬件系统由四个子系统组成,即光源及其辅助系统、控制系统、CCD器件和数据获取系统及PC机数据处理系统;所述软件系统主要由四个子程序组成,即驱动程序、控制程序、数据获取程序及数据处理程序;每一个软件子程序执掌一个子系统,形成一个硬、软件系统相互协调、相互作用的有机统一整体系统,共同完成CCD各个主要光电参量的测试工作,使得到的结果由PC机显示器显示出来。
2.根据权利要求1所述的一种CCD光电参量的测试方法,其特征是:所述硬件系统中的光源及其辅助系统的主要组成部分有白色LED阵列、聚光透镜、驱动时钟和驱动电路;控制系统主要组成部分有伺服驱动器、伺服电机、信号电路和控制电路;CCD器件和数据获取系统主要组成部分有CCD器件、瞄准器、捕捉器、辐照度计、图像采取卡、A/D数据转换器及USB接口芯片单元;PC机数据处理系统主要组成部分有贮存器、D/A数据转换器、数据输出器、显示器。
3.根据权利要求1或2所述的一种CCD光电参量的测试方法,其特征是: CCD器件输出电压与输入曝光量的关系式: , 式中的为CCD的光响应,为光电转换系数,为暗信号电压,为饱和信号电压,为提供饱和输出电压的最小曝光量,也叫饱和曝光量,它是输出饱和时的照度(lx)和积累时间(t)的乘积。
4.根据权利要求1或2所述的一种CCD光电参量的测试方法,其特征是:CCD光电参量主要有暗信号电压、饱和电压、响应度、非线性特性、动态范围等;这些光电参量直接影响着CCD器件的输出电压与输入曝光量的关系,从而影响着CCD器件的工作;暗信号电压是CCD器件不可缺少的输出信号,即使在没有光照或没有对CCD器件注入电荷的情况下也会存在;饱和电压是CCD器件可以产生的最大输出电压;当CCD器件输出电压达到一定值时,尽管入射光强增加, 但输出电压保持不变,此时的输出电压就是饱和电压;响应度是所有像元对同一波长相同照度的响应的平均值,CCD的响应度定义为: ,式中的为各像元输出的平均电压。
5.根据权利要求1或2所述的一种CCD光电参量的测试方法,其特征是:在CCD器件工作时,以输出电压为信号量,以暗信号电压为噪声值,动态范围定义为:。
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