[发明专利]一种半导体发光元件用光接收模块以及半导体发光元件用检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种通过接收来自芯片等半导体发光元件的光而进行光量测定、波长测定的半导体发光元件用光接收模块及半导体发光元件用检测装置。

背景技术

专利文献1中，揭示了对上面发光LED及下面发光LED的检测也可行的技术。具体地说，揭示了不仅是在探针的上部还在工作台的下方设置有光量检测器、波长测定用光纤的技术。

专利文献2中，揭示了在光电转换装置的接收光面中央垂直设置光纤输入部，同时测定发光光量及发光光谱以及同时测定接收光光量及发光光谱的技术。

专利文献3中，揭示了使用具有椭圆形状的旋转椭圆镜对来自半导体发光元件的光进行导光的技术，以及使用具有圆锥台形状的光波导对来自半导体发光元件的光进行导光的技术。

【专利文献1】日本专利文献特开2007-19237号公报

【专利文献2】日本专利文献特开平9-113411号公报

【专利文献3】日本专利文献特开2004-273948号公报

发明所要解决的技术问题

然而，在专利文献1所述的方法中，只有在LED的发光角度范围中±10°左右的范围内可进行光量测定，很难精确地计算出LED所发光的光量。

另外，通过专利文献2所述的方法，可将发行角度设定为广角范围，但需要特殊的光电转换装置。

专利文献3所述的使用具有椭圆形状的旋转椭圆镜对来自半导体发光元件的光进行导光的技术，可使来自半导体发光元件的光集中在光接收部的焦点上，可能会损坏光接收部。另外，从其形状的特殊性考虑，很难形成具有椭圆形状的圆形椭圆镜。

此外，专利文献3所述的使用具有圆锥台形状的光波导对来自半导体发光元件的光进行导光的技术，存在实际制作时在光波导中存在从光波导中放射的光，而且光接收部所接收的光减弱的问题。

本发明鉴于上述问题而完成，其目的之一为提供一种半导体发光元件用光接收模块及半导体发光元件用检测装置，其能够精确地计算出半导体发光元件所发出的光量。

发明内容

本发明的半导体发光元件用光接收模块具备：光接收部，其在上述半导体发光元件的发光中心轴上，且与上述半导体发光元件相对配置，用于接收上述半导体发光元件所发出的光并测定其光量；反射部，其反射上述半导体发光元件所发出的光并引导至上述光接收部，而上述反射部，配置在上述半导体发光元件与上述光接收部之间，且其内侧面是以上述发光中心轴为中心轴的旋转体，并且形成有在上述半导体发光元件侧其内径较小，随着靠近上述光接收部，其内径逐渐变大的连续变化的内侧面。

附图说明

图1是本发明的第1实施方式中LED的发光情况的说明图。

图2是cos型的LED及面包圈型LED的光量比率及强度差比率的说明图。

图3是第1实施方式的半导体发光元件用光接收模块的说明图。

图4是半导体发光元件用检测装置概略说明图。

图5是本发明的第2实施方式的说明图。

图6是本发明的第3实施方式的说明图。

图7是本发明的第4实施方式的说明图。

符号说明

1 半导体发光元件用光接收模块

3 半导体发光元件用检测装置

101 LED（半导体发光元件）

101a 发光面

103 光纤

103a 顶端面

104 导光部

105 光电探测器（光接收部）

107 固定架

109 探针

121 波长测定部

123 反射部

123a 抛物形状反射部

123b 抛物形状反射面

123c 圆锥台形状反射部

133 部分反射部件

133a 部分反射部件反射部

具体实施方式

以下，利用图1具体说明本发明的第1实施方式。图1是本发明的第1实施方式中LED101的发光情况的说明图。

如图1（a）所述，LED101通过发光面101a发射出光。

在这里，LED101为发光元件的一例，即使是其他发光的元件也相同。

另外，θ是从发光面101a的法线方向形成的角度。

LED101向各个角度θ放射光。

图1（b）及图1（c），是基于角度θ的LED101的光量分布图。