[发明专利]用于测试高速直流断路器的设备

权利要求书

1.一种测试高速DC断路器的测试设备，包括用于生成在测试时通过高速DC断路器发送的高电流的部件，其特征在于，所述用于生成高电流的部件包括用于生成电流脉冲的数个单元（A），所述数个单元并联互连成电源单元（A’），其中每个单元（A）包括电容器（C1）和开关（S），该电容器（C1）可与DC电压源（V）并联连接，该开关（S）以间歇地打开和关闭来间歇地加载和卸载该电容器（C1），以便生成电流脉冲，所述用于生成高电流的部件包括用于同步不同单元（A）的开关（S）的间歇打开和关闭的同步部件（F），从而不同单元（A）的电流脉冲彼此在时间上偏移。

2.如权利要求1的测试设备，其特征在于，所述电容器（C1）是超级电容器。

3.如在前权利要求中任一项的测试设备，其特征在于，所述测试设备包括可并联互连的数个所述电源单元（A’）。

4.如在前权利要求中任一项的测试设备，其特征在于，每个单元（A）的开关（S）包括一个或多个MOSFET的开关。

5.如在前权利要求中任一项的测试设备，其特征在于，所述DC电压源（V）包括一个或多个电池。

6.如在前权利要求中任一项的测试设备，其特征在于，每个单元（A）包括用于控制该单元（A）的开关（S）的控制电路（E）。

7.如在前权利要求中任一项的测试设备，其特征在于，每个单元（A）包括峰值电流引导（I1）。

8.如权利要求6和7的测试设备，其特征在于，所述峰值电流引导（I1）受所述控制电路（E）控制。

9.如在前权利要求中任一项的测试设备，其特征在于，每个单元（A）包括用于测量该单元的输出处的电流电平的测量装置（I2）。

10.如权利要求6和9的测试设备，其特征在于，所述测量装置（I2）受所述控制电路（E）的控制。

11.如在前权利要求中任一项的测试设备，其特征在于，所述测试设备包括用于控制测试设备的输出处的总电流电平的控制单元（G）。

12.如权利要求6和11的测试设备，其特征在于，每个控制电路（E）受所述控制单元（G）的控制。

13.如在前权利要求中任一项的测试设备，其特征在于，所述测试设备包括用于测量所述测试设备的输出处的总电流电平的测量装置（I4）。

14.如权利要求11和13的测试设备，其特征在于，所述测量装置受所述控制单元（G）的控制。

15.如在前权利要求中任一项的测试设备，其特征在于，所述控制单元（G）以非线性电流分布可以通过所述测试设备生成的方式被编程。