[发明专利]太阳能电池及其制造方法无效
申请号: | 201080065423.1 | 申请日: | 2010-09-08 |
公开(公告)号: | CN102804394A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 大濑直之;竹中研介 | 申请(专利权)人: | 富士电机株式会社 |
主分类号: | H01L31/04 | 分类号: | H01L31/04 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 张鑫 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 太阳能电池 及其 制造 方法 | ||
1.一种具有至少一层或多层光电转换元件的太阳能电池,在所述层中由微晶硅膜构成的i型硅层设置在n型硅层和p型硅层之间,所述太阳能电池的特征在于,
所述光电转换元件使得置于基板侧的所述n型硅层或p型硅层由非晶硅膜构成,以及
由微晶硅膜构成的籽晶层设置在置于所述基板侧的所述n型硅层或p型硅层与所述i型硅层之间,其中与置于所述基板侧的所述n型硅层或p型硅层接触的部分的结晶率低于所述i型硅层的结晶率,并且所述结晶率朝着所述i型硅层侧、继续至所述i型硅层连续地或分两个或更多个阶段逐渐地增大。
2.如权利要求1所述的太阳能电池,其特征在于,所述籽晶层由具有不同结晶率的两层或更多层微晶硅膜构成。
3.如权利要求1或2所述的太阳能电池,其特征在于,当所述i型硅层和籽晶层各自在同一基板上形成时,所述籽晶层在可形成结晶率高于所述i型硅层的微晶硅膜的膜形成条件下形成。
4.一种具有至少一层或多层光电转换元件的太阳能电池的制造方法,在所述层中由微晶硅构成的i型硅层设置在n型硅层和p型硅层之间,并且置于基板侧的所述n型硅层或p型硅层由非晶硅膜构成,所述方法的特征在于,
使用等离子体CVD法形成所述光电转换元件,由此将含硅烷气体和氢气的混合物引入腔室,以及
在置于所述基板侧的所述n型硅层或p型硅层与所述i型硅层之间形成由微晶硅膜构成的籽晶层,其中与置于所述基板侧的所述n型硅层或p型硅层接触的部分的结晶率低于所述i型硅层的结晶率,并且所述结晶率朝着所述i型硅层侧、继续至所述i型硅层连续地或分两个或更多个阶段逐渐地增大。
5.如权利要求4所述的太阳能电池制造方法,其特征在于,在所述混合物中的含硅烷气体的浓度低于形成所述i型硅层时的浓度的条件下,在所述腔室内的压力、所施加的功率、以及电极间的距离恒定的条件下开始所述籽晶层的形成,并且所述混合物中的含硅烷气体的浓度连续地或分两个或更多个阶段逐渐地增加,最终增加到形成所述i型硅层时的含硅烷气体的浓度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士电机株式会社,未经富士电机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201080065423.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:笔具结构
- 下一篇:LED照明装置及天花板块
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的