[发明专利]存储器诊断方法、存储器诊断装置及存储器诊断程序

说明书

技术领域

本发明涉及在进程中诊断可重写的存储器的存储器诊断方法、存储器诊断装置及存储器诊断程序。

背景技术

关于加工产业中的电气/电子/可编程电子相关的功能安全的国际规格被制定（非专利文献1）。非专利文献1以电气/电子设备等的功能或因故障/损坏对人的生命造成很大影响的事物为对象。例如，相当于输送设备、化学工厂、医疗设备等中的功能安全。

主要关于硬件，设想因部件、材料的变差、产品的偏差等引起的随机硬件故障作为影响波及安全性的因素。非专利文献1规定，对于随机硬件故障，需要通过冗余化、多样化而提高系统的可靠性、设置自身诊断功能等对策。另外，依据概率论的危险（风险）分析等，为了使整体系统的风险低于容许风险，决定该安全装置的安全性水平（SIL=Safety Integrity Level，安全完整性水平）。非专利文献1规定了要求安全性水平从比较低的SIL1至最高水平的SIL4的4个等级。非专利文献1针对SIL2推荐故障检测及诊断，在SIL3及SIL4中，强烈推荐故障检测及诊断。

在通过用CPU（Central Processing Unit，中央处理单元）执行程序而进行处理的设备中，为了程序动作的高速化，一般地进行将程序从ROM（Read-Only Memory，只读存储器）读入访问速度快的RAM（Random-Access Memory，随机存取存储器）并执行。因此，在RAM中，在程序的执行中变更的数据与未变更的数据混在一起。

RAM中存储的数据可能因RAM的故障、制造上的损坏、或宇宙射线等产生数据的非有意的改变。为了定期确认RAM所存储的数据是正常的，需要通过程序或其他逻辑电路进行诊断。

例如，在专利文献1中记载了在控制对象的控制中，校验存储单元的方法。专利文献1的存储单元的校验方法是一种RAM存储体的校验方法，该RAM具备存储数据的多个RAM存储体，该校验方法对成为校验对象的2个RAM的存储体进行相同校验处理（控制运算和监视运算），判断其两个运算结果（校验结果）是否相同。将控制运算及监视运算的结果写入各自的RAM的存储体，然后读出该写入值，判定两者的值是否一致。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2002-288047号公报

非专利文献

非专利文献1：IEC 61508-1 ~ IEC 61508-7，国际电工委员会（International Electrotechnical Commission）：1998-12 ~ 2000-03。

发明内容

发明要解决的课题

在进程的执行中变更的数据利用循环冗余校验（以下，CRC=Cyclic Redundancy Check，循环冗余校验）或双重写入（double RAM）等进行诊断的情况下，在变更数据的同时，需要重写确认基础的数据（CRC码或比较基础数据）。因此，软件处理变得复杂。

对在进程的执行中未变更的数据进行棋盘、移动位等诊断的情况下，因为存在着诊断的处理本身被重写的担忧，所以需要监视程序的动作，并进行写入、读出。因此，软件处理变得复杂。

本发明是鉴于上述那样的情况而做出的，其目的是，提供一种在进程的执行中比较容易地进行该进程所使用的存储器的诊断的存储器诊断方法、存储器诊断装置及存储器诊断程序。

用于解决课题的方案

本发明的第1观点所涉及的存储器诊断方法是一种在进程的执行中诊断进程所使用的存储器的方法。变动区域诊断步骤在存储进程可能进行写入处理的第1数据的存储器的变动区域中，将变动区域所存储的第1数据，存储在存储该第1数据的存储器区域以外的保存区域（退避領域），向曾存储过该保存区域所存储的第1数据的变动区域写入已知数据。然后，将写入已知数据的相同区域的数据读出，判断其与写入的已知数据是否一致。另外，固定区域诊断步骤在作为存储在进程的执行中未变更的第2数据的存储器区域的固定区域中，预先对存储的数据附加错误检测码并存储在固定区域。然后，将由从固定区域读出的数据运算所得的错误检测码与附加并存储的错误检测码比较，判断有无数据错误。