[发明专利]电线的导体接触检测装置、电线的导体接触检测方法以及电线的导体接触检测程序

说明书

技术领域

本发明涉及对切入刃和电线的导体的接触进行检测的技术，例如涉及在对电线的被覆进行剥线时对剥线刃和芯线的接触进行检测的技术。

背景技术

通常，使用剥线刃对电线的被覆进行剥线。在剥线刃切入电线的被覆时，如果剥线刃接触到芯线，将对芯线造成损伤。

以往，作为在对电线的被覆进行剥线时检测剥线刃和芯线的接触的技术，存在专利文献1所公开的技术。

在专利文献1中，通过在对电线的被覆进行剥线时，检测剥线刃和电线的芯线有无导通，从而来检测剥线刃和电线的芯线的接触。

专利文献1：日本特开平6－253430号公报

发明内容

但是，在专利文献1公开的技术中，为了检测剥线刃和电线的芯线有无导通，除了要剥线的部分以外，还需要使检查用的电极与电线的芯线电连接，而如何进行该连接成为重要的问题。特别是，为了关于调整为规定长度并切断的电线进行上述接触检测，需要针对切断了的电线，分别使检查用的电极电连接到芯线，这变得缺乏实现性。

因此，本发明的目的在于能够更简易地检测切入到电线的切入刃和电线的导体的接触。

为了解决上述课题，第1方式提供一种电线的导体接触检测装置，对切入电线的切入刃和电线的导体的接触进行检测，该电线的导体接触检测装置的特征在于，具备：探测部，能够探测与由于电线的导体和切入刃的接触而发生的能量对应的物理量；以及接触状态判定处理部，根据所述探测部的输出信号，依据判定对象期间中的能量发生状况，判定电线的导体和切入刃有无接触。

关于第2方式，在第1方式涉及的电线的导体接触检测装置中，所述探测部是能够对包含由于电线的导体和切入刃的接触而产生的振动频率在内的频带的振动进行探测的振动探测部。

关于第3方式，在第1或者第2方式涉及的电线的导体接触检测装置中，所述探测部是具有100kHz~300kHz的范围内的共振频率的共振型AE传感器。

关于第4方式，在第1~第3方式中的任意一个方式涉及的电线的导体接触检测装置中，所述接触状态判定处理部针对分割所述判定对象期间而得到的多个判定期间的每一个判定是否满足每个期间的接触判定基准，根据每个期间的判定结果判定剥线刃和芯线有无接触。

关于第5方式，在第4方式涉及的电线的导体接触检测装置中，所述接触状态判定处理部在基于所述探测部的输出信号的与每个期间的能量对应的量超过预先设定的能量阈值时，判定为满足每个期间的接触判定基准。

关于第6方式，在第4或者第5方式涉及的电线的导体接触检测装置中，在满足所述每个期间的接触判定基准的数量超过预先设定的接触判定数量时，所述接触状态判定处理部判定为电线的导体和切入刃有接触。

关于第7方式，在第1~第3方式中的任意一个方式涉及的电线的导体接触检测装置中，所述接触状态判定处理部根据与所述判定对象期间中的能量对应的量，判定电线的导体和切入刃有无接触。

关于第8方式，在第7方式涉及的电线的导体接触检测装置中，所述接触状态判定处理部根据所述判定对象期间中的能量的变化程度进行校正，而求出与所述判定对象期间中的能量对应的量。

关于第9方式，在第1~第3方式中的任意一项涉及的电线的导体接触检测装置中，所述接触状态判定处理部根据所述判定对象期间中的能量的持续性，判定电线的导体和切入刃有无接触。

关于第10方式，在第9方式涉及的电线的导体接触检测装置中，所述接触状态判定处理部根据所述探测部的输出信号中包含的频率分量，判定所述判定对象期间中的能量有无持续性。

关于第11方式，在第1~第10方式中的任意一项涉及的电线的导体接触检测装置中，所述判定对象期间包括所述切入刃切入所述电线的期间。

关于第12方式，在第1~第11方式中的任意一项涉及的电线的导体接触检测装置中，所述判定对象期间包括所述切入刃切入所述电线而停止之后的期间。

关于第13方式，在第1~第12方式中的任意一项涉及的电线的导体接触检测装置中，所述判定对象期间包括切入所述电线的切入刃向所述电线的端部侧相对移动而去除被覆时的期间。

关于第14方式，在第1~第13方式中的任意一项涉及的电线的导体接触检测装置中，还具备：一对切入刃，能够切入电线的被覆；以及刃驱动部，使所述一对切入刃接近以及远离移动。

关于第15方式，在第14方式涉及的电线的导体接触检测装置中，所述探测部被设置为与所述一对切入刃的至少一方接触。