[发明专利]用于修整芯片上产生的电压参考的裸片到裸片变化的方法和设备

说明书

技术领域

一实施例大体来说涉及集成电路（IC），且更具体来说涉及经配置以促进对裸片上产生的电压参考信号的裸片到裸片变化的修整的IC。

背景技术

PLD是众所周知的一种集成电路，其可经编程以执行指定的逻辑功能。一种PLD，现场可编程门阵列（FPGA），通常包含可编程拼片（tile）阵列。这些可编程拼片可包含（例如）输入/输出块（IOB）、可配置逻辑块（CLB）、专用随机存取存储器块（BRAM）、乘法器、数字信号处理块（DSP）、处理器、时钟管理器、延迟锁定环（DLL）、多吉比特收发器（MGT）等等。

每一可编程拼片通常包含可编程互连和可编程逻辑两者。可编程互连通常包含大量通过可编程互连点（PIP）互连的不同长度的互连线。可编程逻辑实施用户设计的逻辑，所述用户设计使用可能包含（例如）函数发生器、寄存器、算术逻辑等等的可编程元件。

通常通过将配置数据流加载到界定可编程元件如何配置的内部配置存储器单元中来对可编程互连和可编程逻辑编程。配置数据可从存储器（例如，从外部PROM）读取或通过外部装置写入到FPGA中。因而，个别存储器单元的集体状态确定FPGA的功能。

另一种PLD为复杂可编程逻辑装置或CPLD。CPLD包含通过互连开关矩阵连接在一起且连接到输入/输出（I/O）资源的两个或两个以上“功能块”。CPLD的每一功能块包含与可编程逻辑阵列（PLA）和可编程阵列逻辑（PAL）装置中所使用类似的二级与/或（AND/OR）结构。在某些CPLD中，配置数据存储在非易失性存储器中的芯片上。在其它CPLD中，配置数据存储在非易失性存储器中的芯片上，接着作为初始配置序列的一部分下载到易失性存储器。

对于所有这些PLD来说，装置的功能性由用于配置装置的可重新配置资源的数据位元来决定。数据位元可存储在易失性存储器（例如，静态存储器单元（如FPGA和某些CPLD中））中、非易失性存储器（例如，快闪存储器（如某些CPLD中））中或任一其它类型的存储器单元中。

某些PLD（例如，可从加利福尼亚州圣何塞市赛灵思公司（Xilinx,Inc.of San Jose,California）购得的赛灵思XilinxFPGA）可经编程以并入有具有预先设计的功能性（即“核”）的块。核可包含配置位元的预定集合，所述配置位元对FPGA编程以执行一个或一个以上功能。或者，核可包含描述设计的逻辑和连通性的源代码或示意图。典型核可提供（但不限于）DSP功能、存储器、存储元件和数学函数。某些核包含针对特定系列的FPGA的最佳平面设计布局。核也可能是可参数化的，即允许用户输入参数以激活或改变某一核功能性。

由于PLD在单一衬底上利用集成电路（IC）处理而实施，因此PLD性能某种程度上依赖于过程变化。因此，电压参考电路（例如带隙参考电路和稳压参考电路）所产生的电压量值呈现出变化。因此，为解决过程所引起的变化，电压参考电路经设计以产生低于或高于最佳电压量值的降级电压量值。由于过程引起的变化的缘故，降级电压参考电路未得到优化，这使得PLD的性能降级并引起可从所有过程、电压和温度角落上的PLD实现的性能水平的不确定性。

因此，需要促进对芯片上电压参考电路中的过程相关变化的测量和调整。

发明内容

为克服现有技术的局限性，以及为克服在阅读并理解本说明书后将变得显而易见的其它局限性，各实施例会揭示用于测量和调整芯片上电压参考电路的裸片到裸片变化的设备和方法。

根据一个实施例，一种对集成电路内的电压参考电路进行编程的方法可包括：获得目标电压量值；执行边界扫描以测量由电压参考电路产生的实际电压量值；迭代集成电路的配置位元设置以将由电压参考电路产生的实际电压量值编程为与目标电压量值相比在可接受的误差量值内；以及利用经迭代的配置位元设置对eFuse编程以将实际电压量值永久编程为在可接受的误差量值内。