[发明专利]光学成像写入系统有效

专利信息
申请号: 201080054347.4 申请日: 2010-10-07
公开(公告)号: CN102687077A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: T·莱迪格 申请(专利权)人: 派因布鲁克成像系统公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 酆迅;郑菊
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 光学 成像 写入 系统
【权利要求书】:

1.一种在光刻制程中处理相邻成像区之间的影像数据的方法,包含下列步骤:

提供一个平行成像写入系统,其中该平行成像写入系统包含复数个空间光调制器(SLM)成像单元,且该SLM成像单元排列成一个或多个平行阵列;

接收一个待写入基板的光掩膜数据图案;

处理该光掩膜数据图案,以形成复数个对应于该基板不同区域的分区光掩膜数据图案;

辨识出相邻SLM成像单元其相邻成像区之间的重叠区域;

根据一组预设的成本函数决定一个接合路径,藉以合并该重叠区域内的相邻成像区;及

控制该SLM成像单元,以利用该接合路径将该分区光掩膜数据图案平行写入该基板。

2.如权利要求1的方法,其中辨识该重叠区域的步骤包含:

辨识出一对界定该重叠区域的外边界;

辨识出一个位于该对外边界内的理论边界,其中该理论边界是该接合路径的一个参考中心;

指定与该对外边界相关的高成本函数;及

利用该高成本函数选择该接合路径,以避免该接合路径穿过该对外边界。

3.如权利要求1的方法,其中决定该接合路径的步骤还包含:

分析待写入该基板的光掩膜数据图案;

选择该接合路径,避免使电路结构的边缘成像;及

选择该接合路径,避免使狭窄的电路结构成像。

4.如权利要求1的方法,其中该组预设的成本函数包含:

第一成本项,其与该接合路径是否靠近电路结构的边缘有关。

5.如权利要求4的方法,其中该组预设的成本函数还包含:

第二成本项,其与该接合路径的总长度有关;及

第三成本项,其与该接合路径的每次转向有关。

6.如权利要求1的方法,其中决定该接合路径的步骤还包含:

利用一个目标路径的成本函数决定该接合路径,其中该目标路径乃随机选取,且包含复数个线段。

7.如权利要求6的方法,其中该目标路径包含:

一个随机起点,其位于该重叠区域的第一端;

一个随机终点,其位于该重叠区域的第二端;及

复数个线段,其连接于该随机起点与该随机终点之间以形成该目标路径,且各该线段由下列各项加以定义:

一个长度,其由一个随机数决定;

一个角度,其由一个或多个预定角度决定;及

一个方向,其以交错方式决定。

8.一种在光刻制程中处理相邻成像区之间的影像数据的方法,包含下列步骤:

提供一个平行成像写入系统,其中该平行成像写入系统包含复数个空间光调制器(SLM)成像单元,且该SLM成像单元排列成一个或多个平行阵列;

接收一个待写入基板的光掩膜数据图案;

处理该光掩膜数据图案,以形成复数个对应于该基板不同区域的分区光掩膜数据图案;

辨识出相邻SLM成像单元其相邻成像区之间的重叠区域;

利用一个随机函数决定一个接合路径,藉以合并该重叠区域内的相邻成像区;及

控制该SLM成像单元,以利用该接合路径将该分区光掩膜数据图案平行写入该基板。

9.如权利要求8的方法,其中辨识该重叠区域的步骤包含:

辨识出一对界定该重叠区域的外边界;

辨识出一个位于该对外边界内的理论边界,其中该理论边界是该接合路径的一个参考中心;

指定与该对外边界相关的高成本函数;及

利用该高成本函数选择该接合路径,以避免该接合路径穿过该对外边界。

10.如权利要求8的方法,其中决定该接合路径的步骤还包含:

分析待写入该基板的光掩膜数据图案;

选择该接合路径,避免使电路结构的边缘成像;及

选择该接合路径,避免使狭窄的电路结构成像。

11.如权利要求8的方法,其中决定该接合路径的步骤还包含:

决定一组线段以形成该接合路径,其中各该线段具有对应的长度、角度及方向;及

针对各该线段:

利用一个随机数变化该线段的长度:

利用一个或多个预定角度变化该线段的角度;及

以交错方式变化该线段的方向。

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