[发明专利]电磁波照射检测构件、电磁波照射检测方法和包括电磁波照射检测构件的装置

说明书

技术领域

本发明涉及对电磁波的照射进行检测和记录的电磁波照射检测构件、电磁波照射检测方法和包括电磁波照射检测构件的装置。

背景技术

近年来，由于受到电磁波照射设备(例如微波炉)加热而损坏的移动终端装置中的故障数量越来越多。这背后的一个原因是微波炉有时被用作对湿的移动终端设备进行干燥的装置。根据这种情况，提出了记录温度历史的移动终端设备(例如参见专利文件1和2)。

专利文件1中公开的移动终端设备包括标记，并如下进行操作。当温度达到预定温度时，标记着色。通过蜡或化学反应实现着色。相应地，可以确定温度已经达到预定温度。

专利文件2中公开的移动终端设备包括标记，并如下进行操作。当温度达到预定温度时，标记的温度指示元件熔化并流动，作为背景的黑碳显示为黑色。相应地，可以确定温度已经达到预定温度。

同时，已经提出用于对微波炉中要加热的对象的温度进行测量的其他技术(例如，参见专利文件3至5)。

专利文件3中公开的包装容器包括密封件，并如下进行操作。当包装容器中的蒸汽压力增大时，密封件脱落。以此方式，报告包装容器中要加热的对象的热烹调已经完成。

专利文件4中公开的温度检测器包括热传感探头，并如下进行操作。当使用微波作为功率源时，传感探头对要加热的对象的温度进行检测。相应地，检测出放置在转盘上要加热的对象的温度。

专利文件5中公开的包装容器包括密封件，并如下进行操作。在密封件中设置切割线，当包装容器中的蒸汽压力增大时切割线断开。以此方式，报告包装容器总要加热的对象的热烹调已经完成。

专利文件：

专利文件1：日本未审查申请公开No.2002-111833

专利文件2：日本未审查申请公开No.2005-165794

专利文件3：日本未审查申请公开No.2005-178903

专利文件4：日本未审查申请公开No.57-082628

专利文件5：日本未审查申请公开No.63-218079

发明内容

技术问题

但是，因为专利文件1和2中公开的移动终端设备确定温度已经达到预定温度，所以不能确定要检测的对象是否已经被微波炉加热。

此外，在专利文件4中公开的温度检测器中，当专利文件4中公开的温度检测器被取出到微波炉外部时，要加热的对象的温度降低。因此，不能检测要加热的对象受到微波炉加热而损坏。专利文件3和5中公开的包装容器通过密封件脱落或切割线断开来报告要加热的对象的热烹调已经完成，这意味着不能确定要检测的对象是否已经被微波炉加热。上述这样的问题不仅在微波炉中发生，还在通过电磁波照射执行加热时发生。

本发明旨在提供可以确定要检测的对象是否已经由微波炉等的电磁波照射加热的电磁波照射检测构件、电磁波照射检测方法、和包括电磁波照射检测构件的装置。

解决方案

根据本发明的示例性实施例的电磁波照射检测构件包括检测材料和袋，检测材料包括液体并使得待安装物质变色，检测材料粘附到待安装物质，袋内部包括检测材料，液体由于照射电磁波而从袋流出。

将电磁波照射检测构件安装到根据本发明的包括电磁波照射检测构件的装置，该电磁波照射检测构件包括检测材料和袋，检测材料包括液体并使得待安装物质变色，检测材料粘附到待安装物质，袋内部包括检测材料，液体由于照射电磁波而从袋流出。

根据本发明的电磁波照射检测方法包括：使得包括液体的检测材料由于电磁波照射而从袋流出；和将从袋流出的检测材料安装到待安装物质，以使得待安装物质变色。

本发明的有利效果

根据本发明，能够提供可以确定待检测对象是否已经受到微波炉等的电磁波照射而被加热的电磁波照射检测构件、电磁波照射检测方法、和包括电磁波照射检测构件的装置。

附图说明

图1是示意性示出根据本发明的示例性实施例的电磁波照射检测构件的示图；

图2是示出根据第一示例性实施例的移动终端设备的示例的示图；

图3是示出根据第一示例性实施例的微波照射历史保留方法的示例的示图；

图4是示出根据第二示例性实施例的移动终端设备的一个示例的示图；

图5是示出根据第三示例性实施例的微波照射历史保留板的一个示例的示图；

图6是示出根据第三示例性实施例的微波照射历史保留板的结构示例的示图；

图7是示出根据第三示例性实施例的移动终端设备的一个示例的示图；

图8是颗粒的放大视图；