[发明专利]显示装置和半导体器件有效
申请号: | 201080049642.0 | 申请日: | 2010-09-27 |
公开(公告)号: | CN102612677A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 黑川义元;池田隆之 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G02F1/133;G02F1/1333;G06F3/042;G09G3/20;G09G3/36;H04N1/028 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 柯广华;卢江 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 半导体器件 | ||
1.一种半导体器件,包括:
包括多个像素的输入部分,所述多个像素设置成矩阵;以及
图像处理部分,操作地连接到所述输入部分,
其中,所述多个像素的至少一个包括光电传感器,
其中,所述光电传感器配置成检测所述输入部分之上的物体的阴影,
其中,所述图像处理部分能够通过使用由所述光电传感器得到的所述物体的阴影的数据来检测所述物体的位置,以及
其中,所述光电传感器能够检测没有与所述输入部分相接触的所述物体的阴影。
2.如权利要求1所述的半导体器件,
其中,所述图像处理部分能够通过使用由所述光电传感器得到的所述物体的阴影的所述数据来检测所述物体的运动。
3.如权利要求1所述的半导体器件,
其中,所述多个像素的每个包括液晶元件。
4.如权利要求1所述的半导体器件,
其中,所述多个像素的每个包括发光元件。
5.一种显示装置,包括:
包括多个像素的显示面板,所述多个像素设置成矩阵;以及
图像处理部分,操作地连接到所述显示面板,
其中,所述多个像素的至少一个包括光电传感器,
其中,所述光电传感器配置成检测所述显示面板之上的物体的阴影,
其中,所述图像处理部分能够通过使用由所述光电传感器得到的所述物体的阴影的数据来检测所述物体的位置,以及
其中,所述光电传感器能够检测没有与所述显示面板相接触的所述物体的阴影。
6.如权利要求5所述的显示装置,
其中,所述图像处理部分能够通过使用由所述光电传感器得到的所述物体的阴影的所述数据来检测所述物体的运动。
7.一种显示装置,包括:
包括多个区域的显示面板,所述多个区域各包括设置成矩阵的多个像素;以及
图像处理部分,操作地连接到所述显示面板,
其中,所述多个区域的每个中的所述多个像素的至少一个包括光电传感器,
其中,所述光电传感器配置成检测所述显示面板之上的物体的阴影,
其中,所述图像处理部分能够识别所述多个区域中检测到比所述多个区域中其它区域更大数量的阴影的一个区域作为所述物体的位置,以及
其中,所述光电传感器能够检测没有与所述显示面板相接触的所述物体的阴影。
8.如权利要求7所述的显示装置,
其中,所述图像处理部分能够通过使用所述物体的位置的连续数据来检测所述物体的运动。
9.一种显示装置,包括:
显示面板,包括:
包括多个第一像素的光电检测器部分,所述多个第一像素各包括第一光电传感器;以及
包括多个第二像素的区域传感器部分,所述多个第二像素各包括第二光电传感器;以及
图像处理部分,操作地连接到所述显示面板,
其中,所述第一光电传感器配置成检测所述显示面板之上的物体的阴影,
其中,所述图像处理部分能够使用由所述第一光电传感器得到的所述物体的阴影的数据来检测所述物体的位置,以及
其中,所述第一光电传感器能够检测没有与所述显示面板相接触的所述物体的阴影。
10.如权利要求9所述的显示装置,
其中,所述图像处理部分能够通过使用由所述第一光电传感器得到的所述物体的阴影的所述数据来检测所述物体的运动。
11.如权利要求9所述的显示装置,
其中,所述多个第二像素的数量大于所述多个第一像素的数量。
12.如权利要求9所述的显示装置,
其中,所述多个第一像素设置在所述多个第二像素周围。
13.如权利要求9所述的显示装置,
其中,所述第一光电传感器是红外光传感器。
14.如权利要求9所述的显示装置,
其中,所述第二光电传感器是可见光传感器。
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