[发明专利]聚硅烷-聚硅氮烷共聚物及其制备和使用方法无效

专利信息
申请号: 201080048280.3 申请日: 2010-10-25
公开(公告)号: CN102597066A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 韦·陈;E·S·梅尔;B·T·源;S·王;马克·A·瓦努斯;周晓兵 申请(专利权)人: 道康宁公司
主分类号: C08G77/62 分类号: C08G77/62;C09D183/16
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 武晶晶;郑霞
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 硅烷 聚硅氮烷 共聚物 及其 制备 使用方法
【权利要求书】:

1.一种聚硅烷-聚硅氮烷共聚物,包括:

式的聚硅烷单元,和

式的聚硅氮烷单元,其中

R1和R2各自独立地选自H、Si和N原子,且

R3选自H、Si或C原子,

a≥1,

b≥1,且

值(a+b)≥2;且

其中所述共聚物不含SiC键。

2.根据权利要求1所述的共聚物,具有式

其中R1和R2各自独立地选自H、Si和N原子,且R3选自H、Si或C原子。

3.根据权利要求1所述的共聚物,还包括式的单元,其中c≥1,式的单元,其中d≥1,或两者,条件是所述式的单元不同于所述聚硅烷单元。

4.一种组合物,包括:

(a)5%至20%的权利要求1至3中任一项所述的共聚物,和

(b)80%至95%的溶剂。

5.一种方法,包括:

1)将权利要求1至3中任一项所述的共聚物或权利要求4所述的组合物涂覆到基材上以形成膜,和

2)加热所述膜。

6.根据权利要求5所述的方法,其中通过旋涂、挤压涂覆、浸渍涂覆或喷涂进行步骤1)。

7.根据权利要求5或权利要求6所述的方法,其中所述基材是其上具有纳米级沟槽的半导体晶片,其中所述纳米级沟槽具有6至60的高宽比。

8.根据权利要求5至7中任一项所述的方法,其中步骤2)包括i)低温湿气侵润步骤和ii)高温退火步骤。

9.根据权利要求8所述的方法,其中步骤i)包括将所述膜暴露于22℃至200℃范围内的温度下的空气湿气或蒸气,持续30分钟至60分钟,且其后在至少400℃的温度下加热所述膜30分钟至60分钟。

10.根据权利要求8所述的方法,其中步骤ii)包括在包含N2O、N2或蒸气的环境中,在从600℃至900℃范围内的温度下加热所述膜。

11.一种根据权利要求5至10中任一项所述的方法制备的产物。

12.根据权利要求11所述的产物,其中所述产物是完全缩合的。

13.根据权利要求11所述的产物,其中所述产物是部分缩合的。

14.一种用于制备权利要求1或权利要求2所述的共聚物的方法,包括:I)将每个分子具有至少2个硅原子的全氯聚硅烷与胺反应。

15.一种用于制备权利要求1所述的共聚物的方法,包括:I)将每个分子具有至少2个硅原子的全氯聚硅烷与氨反应。

16.一种用于制备权利要求1所述的共聚物的方法,包括:I)将每个分子具有至少2个硅原子的全氯聚硅烷与硅氮烷反应。

17.根据权利要求14至16中任一项所述的方法,其中所述全氯聚硅烷是线型的、支化的、环状的或三维桥连的。

18.根据权利要求14至16中任一项所述的方法,其中所述全氯聚硅烷包括全氯新戊硅烷。

19.根据权利要求14至18中任一项所述的方法,其中步骤I)中包括H2SiCl2、HSiCl3或其组合。

20.根据权利要求14至18中任一项所述的方法,其中无溶剂地进行步骤I)。

21.根据权利要求14至18中任一项所述的方法,其中在步骤I)中使用溶剂。

22.根据权利要求14至19中任一项所述的方法,还包括II)在惰性环境中在升高的温度下加热步骤I)的产物。

23.权利要求1至3中任一项所述的共聚物或权利要求4所述的组合物在选自浅沟槽隔离和金属前电介质的应用中的用途。

24.权利要求1至3中任一项所述的共聚物用于纤维铸造的用途。

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