[发明专利]光学传感器问询系统在审

专利信息
申请号: 201080048010.2 申请日: 2010-09-30
公开(公告)号: CN102667415A 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: T·A·拉森;M·P·卡尔拉里奥 申请(专利权)人: 波音公司
主分类号: G01D5/26 分类号: G01D5/26
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 赵蓉民
地址: 美国伊*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 光学 传感器 问询 系统
【权利要求书】:

1.一种用于收集来自结构中的至少一个光学传感器的信息的光学问询系统,其包括:

与所述至少一个光学传感器通信的光学信号发生器,和用于收集由所述至少一个光学传感器返回的光学信号的光学信号接收装置,

每一个光学传感器均包括光纤缆线和被安装在该光纤缆线上的光子晶体晶片。

2.根据权利要求1所述的光学问询系统,其中所述光纤缆线具有被抛光的端面,并且所述光子晶体晶片被固定在所述光纤缆线的所述被抛光的端面上。

3.根据权利要求2所述的光学问询系统,其中所述光子晶体晶片探测一定波长范围的反射光谱的变化。

4.根据权利要求1所述的光学问询系统,其中进一步包含被设置在所述光学信号发生器和所述光学信号接收装置之间的切换机构,因此能够同时发射或接收两个或更多个光学信号。

5.根据权利要求4所述的光学问询系统,其中所述切换机构包括波分复用开关。

6.根据权利要求4所述的光学问询系统,其中所述切换机构包括MEMS开关。

7.根据权利要求1所述的光学问询系统,其中所述光学信号发生器包括激光器。

8.根据权利要求1所述的光学问询系统,其中所述光学信号发生器包括LED。

9.根据权利要求1所述的光学问询系统,其中所述光纤包括侧面散射式光导,以及由所述光纤监视的被携带在所述光纤的末端上的一段光子晶体材料。

10.根据权利要求1所述的光学问询系统,其中进一步包含与所述光子晶体耦合以便控制晶体的反射特性的电压改变装置。

11.根据权利要求1所述的光学问询系统,其中所述光学传感器探测压力、温度、化学材料和生物材料中的至少一者。

12.一种监视交通工具结构的结构完好性的方法,其包括:

产生光学信号,

引导光学信号到远离光学信号发生器定位的光学传感器上,所述光学传感器包含与所述光学信号和环境情况光学上交互的光子晶体晶片,

捕获从所述光学传感器反射的反射光学信号,以及

分析所述反射光学信号以便确定所述环境情况的改变。

13.根据权利要求12所述的方法,其中进一步包括步骤:当分析的反射光学信号指示出所述交通工具结构的所述环境情况存在不可接受的改变时,向控制装置发送警报信号。

14.根据权利要求12所述的方法,其中分析所述反射光学信号的步骤包括首先将所述光学信号转变成电信号。

15.一种光学传感器,其包括:

具有自由端的有限长度的光纤,和

安装在所述光纤的所述自由端的光子晶体。

16.根据权利要求15所述的光学传感器,其中光纤自由端包含被抛光的表面并且所述晶体被固定到所述被抛光的表面。

17.根据权利要求15所述的光学传感器,其中所述光子晶体被涂覆有保护所述晶体免受破坏性环境影响的材料。

18.根据权利要求15所述的光学传感器,其中进一步包含向所述晶体施加一定范围电压的装置,其中所述电压改变所述晶体的反射特性。

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