[发明专利]改进的无尘室擦拭布

说明书

技术领域

本发明大体上涉及无尘室擦拭布的供应，且更明确地说，涉及经处理以提供优于未经处理的擦拭布的改进的强度及微粒捕获量的无尘室擦拭布。

背景技术

每当想要最小化微粒污染时，擦拭布就可用于清洁表面。擦拭布用于许多不同的清洁应用，例如用于无尘室、汽车涂漆室及其它受控环境中。

不同的应用需要这些类型的擦拭布应达到的不同标准。举例来说，用于无尘室中的擦拭布必须满足严格的性能标准。这些标准与流体吸收性及污染物有关，包括最大可允许微粒、未指定的可抽取物质及个别离子污染物。用于微粒污染物释放的标准是特别严格的，且已设计各种方法来满足所述标准。

擦拭布可由经编织的、经纺织的或未经纺织的织物制造。将所述织物切割成通常为9英寸乘以9英寸见方的擦拭布。所述擦拭布可在无尘室洗濯间中使用特殊表面活性剂及经高度过滤及提纯的水来清洗，以减少存在于织物上的污染物。在清洗之后，所述擦拭布可经干燥包装或用合适溶剂来预浸透。

擦拭布的物理性质一般取决于制造所述擦拭布的衬底，且织物通常沿着边缘密封或以其它方式经进一步机械加强。

因此，仍然存在对适合此用途而同时经处理以提供优于未处理的擦拭布的提高的强度及微粒捕获量的新颖且改进的无尘室擦拭布的需求。

发明内容

本发明是针对无尘室擦拭布的供应。所述无尘室擦拭布的供应包括密封包装及所述密封包装内的多个擦拭布。所述包装中的擦拭布包括衬底及施加到所述衬底的酐涂层。当使用标准陷阱撕拉方法ASTM D 5587：1996来测试时，相比于未经处理的擦拭布，经处理的擦拭布具有大于约10％的来自处理的强度贡献(lbs)及大于约10％的炭黑拾取百分比方面的平均提高。此外，可沿着每一擦拭布的周长施加密封边缘以防止材料在使用期间从所述擦拭布损失。

优选的是，所述衬底由合成纱线形成。所述合成纱线可为在约30但尼尔与约200但尼尔之间的聚酯。优选的是，所述合成纱线为约70但尼尔。此外，所述合成纱线可经纹理化，例如经空气纹理化及在没有缠结的情况下经空气纹理化。优选的是，所述衬底在约40gsm/m²与约300gsm/m²之间。在包装之前，所述衬底可通过圆形编织来形成且经纵切。

优选的是，所述酐涂层经局部施加且通过浸渍及浸染来施加。优选的是，以织物重量计，所述酐涂层的固体占约0.02重量百分比与2重量百分比之间，其中以织物重量计，所述酐涂层的固体占约0.1重量百分比与0.5重量百分比之间是最优选的。优选的是，所述酐涂层为共聚体，且优选为乙烯马来酐(EMA)。

所述擦拭布可进一步包括饱和剂。所述饱和剂可选自酒精、水、酮、次氯酸盐、过氧化物、生物稳定剂、生物杀灭剂、润滑剂、表面活性剂及其混合物。在一些情况下，可在包装之前洗濯所述用于无尘室的擦拭布。在包装之后，所述擦拭布还可经灭菌且可经照射直到大体上无菌为止。

所述擦拭布可进一步包括围绕所述密封包装的外袋，其适于在使用前移除。所述密封包装可为可重新密封的。所述密封包装可为抗溶剂的。此外，所述密封包装可在环境与所述多个擦拭布之间形成无菌屏障。形成所述密封包装的材料可选自由层压板、膜、金属化膜及其组合组成的群组。

因此，本发明的一个方面为提供无尘室擦拭布的供应，产品包括：(a)密封包装；及(b)所述密封包装内的多个擦拭布，当使用标准陷阱撕拉方法ASTM D 5587：1996来测试时，相比于未经处理的擦拭布，所述多个擦拭布具有大于约10％的来自处理的强度贡献(lbs)及大于约10％的炭黑拾取百分比方面的平均提高。

本发明的另一个方面为提供具有颗粒捕获涂层的纺织品，产品包括：(a)衬底；及(b)施加到所述衬底的酐涂层。

本发明的又一方面为提供无尘室擦拭布的供应，所述无尘室擦拭布的供应包括：(a)密封包装；(b)所述密封包装内的多个擦拭布，所述擦拭布包括(i)衬底及(ii)施加到所述衬底的酐涂层，其中当使用标准陷阱撕拉方法ASTM D 5587：1996来测试时，相比于未经处理的擦拭布，所述多个擦拭布具有大于约10％的来自处理的强度贡献(lbs)及大于约10％的炭黑拾取百分比方面的平均提高；及(c)沿着每一擦拭布的周长的密封边缘，其用于防止材料在使用期间从所述擦拭布损失。

在阅读结合附图考虑时的以下对优选实施例的描述之后，所属领域的技术人员将明自本发明的这些及其它方面。

附图说明

图1为根据本发明而构造的擦拭布的俯视图；