[发明专利]具有成像光学元件的传感器设备

权利要求书

1.一种传感器设备(100)，用于检测位于载体(11)的结合表面(12)处的颗粒(MP，MP′)，包括：

a)具有图像传感器(53)的显微镜(50)，颗粒(MP，MP′)被成像于所述图像传感器(53)上；

b)位移单元(60，70，80)，用于可控地使所述图像传感器(53)相对于所述载体(11)产生位移；

c)评估单元(32)，用于评估在所述载体(11)与所述图像传感器(53)的不同相对位移处生成的图像。

2.一种用于使用传感器设备(100)检测位于载体(11)的结合表面(12)处的颗粒(MP，MP′)的方法，包括：

a)将颗粒(MP，MP′)成像于显微镜(50)的图像传感器(53)上；

b)使用位移单元(60，70，80)，使所述图像传感器(53)相对于所述载体(11)产生位移；

c)使用评估单元(32)，评估在所述载体(11)与所述图像传感器(53)的不同相对位移处生成的图像。

3.根据权利要求1所述的传感器设备(100)或者根据权利要求2所述的方法，

其特征在于，所述图像传感器(53)被像素化。

4.根据权利要求3所述的传感器设备(100)或者方法，

其特征在于，颗粒(MP，MP′)的所述图像覆盖在所述图像传感器(53)上的一个和大约20个像素之间，优选地覆盖在大约3个和大约9个像素之间。

5.根据权利要求1所述的传感器设备(100)或者根据权利要求2所述的方法，

其特征在于，所述位移单元(60，70，80)使所述载体(11)，或者所述显微镜(50)，或者所述图像传感器(53)相对于所述传感器设备的剩余部件产生位移。

6.根据权利要求1所述的传感器设备(100)或者根据权利要求2所述的方法，

其特征在于，所述传感器设备(100)包括致动器单元(41)，所述致动器单元(41)用于在平行于所述结合表面(12)的方向上对颗粒(MP)施加力。

7.根据权利要求6所述的传感器设备(100)或者方法，

其特征在于，所述致动器单元包括磁体(41)、电场生成器或者超声探针。

8.根据权利要求6所述的传感器设备(100)或者方法，

其特征在于，所述致动器单元(41)适于在相反方向上生成力。

9.根据权利要求6所述的传感器设备(100)或者方法，

其特征在于，所述致动器单元(41)和所述位移单元(60，70，80)同步。

10.根据权利要求1所述的传感器设备(100)或者根据权利要求2所述的方法，

其特征在于，所述评估单元(32)适于确定与颗粒(MP，MP′)相对于所述结合表面的距离(z，ΔH)、颗粒(MP，MP′)相对于所述结合表面的横向位移(Δx)和/或结合的颗粒(MP)相对于所述结合表面的驻留时间相关的参数。

11.根据权利要求1所述的传感器设备(100)或者根据权利要求2所述的方法，

其特征在于，所述评估单元(32)适于选择隔离的颗粒(MP，MP′)用于评估。

12.根据权利要求1所述的传感器设备(100)或者根据权利要求2所述的方法，

其特征在于，所述颗粒是标签颗粒，特别是经由较小目标颗粒(TP)结合到所述结合表面(12)的磁珠(MP)。

13.根据权利要求1所述的传感器设备(100)或者根据权利要求2所述的方法，

其特征在于，所述传感器设备(100)包括用于使用倏逝波照射所述结合表面(12)的光源(21)。

14.根据权利要求1所述的传感器设备(100)或者根据权利要求2所述的方法，

其特征在于，所述传感器设备(100)包括用于使用全内反射光束(L1，L2)检测颗粒(MP，MP′)的光源(21)和光检测器(31)。

15.一种根据权利要求1到14中任一项所述的传感器设备(100)的用途，用于分子诊断、生物样本分析、化学样本分析、食品分析和/或法医学分析。