[发明专利]ZnO系透明导电膜用靶及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201080041823.9 申请日: 2010-07-15
公开(公告)号: CN102549191A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 福岛英子 申请(专利权)人: 日立金属株式会社
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C04B35/453;H01L31/04
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: zno 透明 导电 膜用靶 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种ZnO系透明导电膜用靶,其特征在于,其是硼量以B2O3/(ZnO+B2O3+V2O3)×100的氧化物换算为0.5~10质量%、钒量以V2O3/(ZnO+B2O3+V2O3)×100的氧化物换算为0.05~5质量%、密度以相对密度计为90%以上的氧化物烧结体。

2.根据权利要求1所述的ZnO系透明导电膜用靶,其特征在于,含有以3价氧化物换算分别为2质量%以下的铝和/或镓。

3.一种ZnO系透明导电膜用靶的制造方法,其特征在于,所述ZnO系透明导电膜用靶由含有硼和钒、且硼量以B2O3/(ZnO+B2O3+V2O3)×100的氧化物换算为0.5~10质量%、钒量以V2O3/(ZnO+B2O3+V2O3)×100的氧化物换算为0.05~5质量%的氧化物烧结体制成,使用H3BO3粉末作为硼源,使用V2O3粉末作为钒源。

4.根据权利要求3所述的ZnO系透明导电膜用靶的制造方法,其特征在于,ZnO系透明电极用靶含有以3价氧化物换算分别为2质量%以下的铝和/或镓。

5.根据权利要求3或4所述的ZnO系透明导电膜用靶的制造方法,其特征在于,烧结温度为700~1050℃,烧结气氛为非还原性气氛。

6.根据权利要求3~5中任一项所述的ZnO系透明导电膜用靶的制造方法,其特征在于,将混合H3BO3粉末和ZnO粉末或进一步混合V2O3粉末并预烧结而得到的预烧结粉末作为烧结原料进行烧结。

7.根据权利要求6所述的ZnO系透明导电膜用靶的制造方法,其特征在于,将预烧结粉末的组成设为以B2O3/(ZnO+B2O3+V2O3)×100的氧化物换算为0.5~45质量%,向所述预烧结粉末中混合ZnO粉末或V2O3的任一种或者两者,进行烧结,获得相对密度为90%以上的烧结体。

8.根据权利要求6或者7所述的ZnO系透明导电膜用靶的制造方法,其特征在于,将预烧结温度设为100~500℃。

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