[发明专利]介质记录再现装置和介质记录再现方法有效
| 申请号: | 201080041358.9 | 申请日: | 2010-07-14 |
| 公开(公告)号: | CN102511063A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
| 发明(设计)人: | 赤星健司 | 申请(专利权)人: | 日立民用电子株式会社 |
| 主分类号: | G11B20/12 | 分类号: | G11B20/12 |
| 代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 介质 记录 再现 装置 方法 | ||
1.一种记录再现装置,使用具备用户数据区域、替换区域和至少在替换区域使用时更新的管理信息存储区域的可擦写的介质,在以规定的记录块单位进行替换处理的同时进行记录再现,其特征在于,包括:
进行该介质的物理初始化的初始化处理单元;
使用该替换区域进行替换处理的替换处理单元;
能够对存储在该管理信息存储区域中的表示每个块的缺陷类别信息的DFL(Defect List,缺陷列表)条目信息进行判定·检索的DFL条目检索单元;和
决定该替换区域内下一个要使用的开头块地址NAP(Next Available PSN,下一可用物理扇区号)的NAP决定单元,
在初始化处理时或替换处理时该替换区域内的块被判断为缺陷块的情况下,能够将其作为“不可用条目”登记在该DFL中,或者,在不将处理前的缺陷块作为缺陷块处理的情况下,能够作为“使用后要校验的条目”登记在该DFL中,
在该介质的初始化处理时该替换区域内包含“不可用条目”或“使用后要校验的条目”的块的情况下,
该NAP决定单元,以不表示登记为“不可用条目”或“使用后要校验的条目”的开头块地址的方式决定NAP。
2.如权利要求1所述的记录再现装置,其特征在于:
所述NAP决定单元,以表示所述替换区域内从开头块起在使用方向上的第一个能够使用的开头块地址的方式决定NAP。
3.如权利要求1所述的记录再现装置,其特征在于:
在所述替换区域内从开头块起在使用方向上连续M个块(M是自然数)登记为“不可用条目”或“使用后要校验的条目”的情况下,所述NAP决定单元以表示M+1块的开头块地址的方式决定NAP。
4.如权利要求1所述的记录再现装置,其特征在于:
在所述替换区域内的所有块登记为“不可用条目”或“使用后要校验的条目”的情况下,所述NAP决定单元使NAP值表示无效值。
5.一种记录再现装置,使用具备用户数据区域、替换区域和至少在替换区域使用时更新的管理信息存储区域的可擦写的介质,在以规定的记录块单位进行替换处理的同时进行记录再现,其特征在于,至少包括:
进行该介质的物理初始化的初始化处理单元;
使用该替换区域进行替换处理的替换处理单元;
能够对存储在该管理信息存储区域中的表示每个块的缺陷类别信息的DFL条目信息进行判定·检索的DFL条目检索单元;和
决定该替换区域内下一个要使用的开头块地址NAP的NAP决定单元,
在初始化处理时或替换处理时该替换区域内的块被判断为缺陷块的情况下,能够将其作为“不可用条目”登记在该DFL中,或者,在不将处理前的缺陷块作为缺陷块处理的情况下,能够作为“使用后要校验的条目”登记在该DFL中,
在该介质的初始化处理时,
在该介质的初始化处理前存在的该替换区域内的“不可用条目”或“使用后要校验的条目”的块在初始化处理后被清除的情况下,
该NAP决定单元,以不表示初始化处理前登记的“不可用条目”或“使用后要校验的条目”的开头块地址的方式决定NAP。
6.如权利要求5所述的记录再现装置,其特征在于:
所述NAP决定单元,
假定存在初始化处理前登记的“不可用条目”或“使用后要校验的条目”的块,
以表示所述替换区域内从开头块起在使用方向上的第一个能够使用的开头块地址的方式决定NAP。
7.如权利要求5所述的记录再现装置,其特征在于:
所述NAP决定单元,
假定存在初始化处理前登记的“不可用条目”或“使用后要校验的条目”的块,
在所述替换区域内从开头块起在使用方向上连续M个块(M是自然数)登记为“不可用条目”或“使用后要校验的条目”的情况下,所述NAP决定单元以表示M+1块的开头块地址的方式决定NAP。
8.如权利要求5所述的记录再现装置,其特征在于:
所述NAP决定单元,
假定存在初始化处理前登记的“不可用条目”或“使用后要校验的条目”的块,
在所述替换区域内的所有块登记为“不可用条目”或“使用后要校验的条目”的情况下,所述NAP决定单元使NAP值表示无效值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日立民用电子株式会社,未经日立民用电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201080041358.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于椭偏仪的薄膜温度测量方法
- 下一篇:工作装置以及安装销组件





