[发明专利]具有可活动抑制的光子敏感元件、尤其SPAD的光子探测器、以及具有这种光子探测器的距离测量设备

权利要求书

1.光子探测器（1），具有：

可活动抑制的光子敏感元件（5），以及

光子透射元件（7），

其中该光子探测器（1）构造用于改变通过该光子透射元件（7）所透射的并投射到该光子敏感元件上的光子强度。

2.根据权利要求1所述的光子探测器，其中该光子透射元件（7）构造用于通过吸收来降低所透射的光子强度。

3.根据权利要求1或2所述的光子探测器，其中该光子透射元件（7）构造用于通过散焦来降低所透射的光子强度。

4.根据权利要求1至3之一所述的光子探测器，其中该光子探测器（1）构造用于根据投射到该光子透射元件（7）上的光子强度来改变通过该光子透射元件（7）所透射的并投射到该光子敏感元件上的光子强度。

5.根据权利要求1至4之一所述的光子探测器，其中该光子探测器（1）构造用于通过改变通过该光子透射元件（7）所透射的并投射到该光子敏感元件上的光子强度来促使该可活动抑制的光子敏感元件（5）的光子计数率的最大化。

6.根据权利要求1至5之一所述的光子探测器，其中该光子透射元件（7）构造用于无源地根据投射到该光子透射元件（7）上的光子强度来改变所透射的光子强度。

7.根据权利要求1至6之一所述的光子探测器，另外还具有光子强度测量装置（19）和控制装置（21），其中该光子探测器（1）构造用于借助该控制装置（21）有源地根据由该光子强度测量装置（19）所测量的光子强度来改变所透射的光子强度。

8.根据权利要求1至7之一所述的光子探测器，其中该光子透射元件（7）利用光致变色材料来构造。

9.根据权利要求1至8之一所述的光子探测器，其中该光子透射元件（7）构造有关于其开孔截面可变的可变光阑。

10.根据权利要求1至9之一所述的光子探测器，其中该光子透射元件（7）利用液晶来构造。

11.根据权利要求1至10之一所述的光子探测器，其中该可活动抑制的光子敏感元件（5）构造有至少一个SPAD。

12.用于测量至目标对象（215）的距离的距离测量设备（210），具有：

光子源（212），用于向该目标对象（215）发送光子；

根据权利要求1至11之一所述的用于探测从该目标对象（215）返回的光子的光子探测器（1）；

分析装置（236），用于基于光子的传播时间来确定距离。