[发明专利]用于测量管内侧沉积物的装置和方法

权利要求书

1.一种包括表面跟随探头的探头装置，所述表面跟随探头包括：

(a)探头主体，

(b)一个或多个支座对，其中每个支座对包括附连至所述探头主体的偏压支座和附连至所述探头主体的固定支座，

(c)目标件，所述目标件安装在所述一个或多个支座对中的每一个的所述偏压支座上，其中所述目标件包括导电性且铁磁性的、导电性且非铁磁性的或者非导电性且铁磁性的材料，以及

(d)导体线圈，所述导体线圈与每个目标件电磁耦合。

2.根据权利要求1所述的探头装置，其中，所述探头装置还包括联接至所述表面跟随探头的涡流探头。

3.根据权利要求2所述的探头装置，其中，所述涡流探头是轴绕式探头。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的探头装置，其中，所述偏压支座是安装有弹簧的支座。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的探头装置，其中，所述偏压支座和所述固定支座均包括一个或多个保护性插入件。

6.根据权利要求4所述的探头装置，其中，所述保护性插入件是陶瓷。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的探头装置，其中，所述探头装置包括多于一个的支座对。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的探头装置，其中，所述探头装置还包括推管。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的探头装置，其中，所述目标件成圆盘形或圆柱形，或者包括圆盘形部分和圆柱形部分。

10.根据权利要求9所述的探头装置，其中，所述目标件包括圆盘形部分和圆柱形部分，并且所述圆柱形部分在所述导体线圈的一部分内延伸。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的探头装置，其中，所述目标件由这样的材料制成：该材料是导电性且铁磁性的、导电性且非铁磁性的、非导电性且铁磁性的，或者它们的结合。

12.根据权利要求11所述的探头装置，其中，所述目标件由铁素体或钢制成。

13.一种确定管内内侧直径、导电性沉积物的厚度的方法，所述方法包括以下步骤：

(a)在所述管内的一位置处确定所述管的内径；

(b)在所述位置处进行涡流测试；以及

(c)使在步骤(a)中确定的所述内径与来自步骤(b)的输出相关联，以计算所述管内的所述内侧直径、导电性沉积物的厚度。

14.一种用于在确定管内的内侧直径、非导电性沉积物的厚度的过程中使用的套件，所述套件包括(i)根据权利要求1所述的探头装置；以及(ii)一个或多个凹痕标定管。

15.一种用于在确定管内的内侧直径、导电性沉积物的厚度的过程中使用的套件，所述套件包括(i)根据权利要求2所述的探头装置；以及(ii)一个或多个凹痕标定管。