[发明专利]超声测量装置和用于分析超声信号的方法有效

专利信息
申请号: 201080033446.4 申请日: 2010-07-14
公开(公告)号: CN102549451A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: M·卡尔 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G01S7/539 分类号: G01S7/539;G01S15/93;G01S15/58;G01S7/527;G01S15/52
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 曾立
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 超声 测量 装置 用于 分析 信号 方法
【权利要求书】:

1.用于车辆(10)的超声测量装置,其具有

接收装置(14),所述接收装置被设计用于接收由车辆自身的和/或外部的超声发射器(13)发出的超声信号(r(τ))并且确定和提供关于所接收的超声信号(r(τ))的周期持续时间(PN1至PN6,PP1至PP6)的时间变化过程方面的测量序列(Δp,Δp(1),Δp(2),f,PN1至PN6,PP1至PP6);

比较装置(101),在所述比较装置上存放了至少一个基准序列(Δp0(1)至Δp0(N)),并且所述比较装置被设计用于将所确定的测量序列(Δp,Δp(1),Δp(2),f,PN1至PN6,PP1至PP6)与所述至少一个基准序列(Δp0(1)至Δp0(N))进行比较并且确定关于所确定的测量序列(Δp,Δp(1),Δp(2),f,PN1至PN6,PP1至PP6)的相对于所述至少一个基准序列(Δp0(1)至Δp0(N))的偏差方面的比较信息(Δpn(1)至Δpn(N));和

分析装置(112),所述分析装置被设计用于在考虑所确定的比较信息(Δpn(1)至Δpn(N))的情况下确定关于由所述超声发射器(13)发射的信号波形、所述接收装置(14)和所述外部的超声发射器(13)之间的相对速度、至少一个位于所述接收装置(14)与所述车辆自身的和/或外部的超声发射器(13)之间的传输路径中的反射物体(16a,16b,16c,18)的相对速度方面的信息和/或所述至少一个反射物体(16a,16b,16c,18)的形状特征。

2.根据权利要求1所述的超声测量装置,其中,由所述接收装置(14)确定的所述测量序列(Δp,Δp(1),Δp(2),f,PN1至PN6,PP1至PP6)包括:所述超声信号(r(τ))的正周期持续时间(PP1至PP6)的序列、所述超声信号(r(τ))的负周期持续时间(PN1至PN6)的序列、所述超声信号(r(τ))的相对于基准周期持续时间(P0)的正周期持续时间偏差(Δp,Δp(1),Δp(2))的序列、所述超声信号(r(τ))的相对于基准周期持续时间(P0)的负周期持续时间偏差的序列、所述超声信号(r(τ))的频率(f)的序列和/或所述超声信号(r(τ))的相对于基准频率(f0)的频率偏差的序列。

3.根据权利要求1或2所述的超声测量装置,其中,所述接收装置(14)包括阈值开关(60),所述阈值开关具有预给定的重要性阈值(R(τ)),所述阈值开关被设计用于如此滤波所述超声信号(r(τ)),使得在考虑所述超声信号(r(τ))的具有高于所述重要性阈值(R(τ))的强度(I(τ))的信号范围(Δ1至Δ6)的情况下确定所述测量序列(Δp,Δp(1),Δp(2),f,PN1至PN6,PP1至PP6),并且滤除所述超声信号(r(τ))的具有低于所述重要性阈值(r(τ))的强度(I(τ))的信号范围。

4.根据以上权利要求中任一项所述的超声测量装置,其中,所述接收装置(14)包括二进制信号输出装置,所述二进制信号输出装置被设计用于至少将所接收的超声信号(r(τ))的一些范围转换成二进制信号(b(τ),b1(τ),b2(τ)),其中,所述接收装置(14)包括至少一个时间测量单元(62a,62b,154a,154b),所述至少一个时间测量单元被设计用于在考虑所提供的二进制信号(b(τ),b1(τ),b2(τ))的情况下确定相对于所述基准周期持续时间(P0)的正周期持续时间偏差(Δp,Δp(1),Δp(2))的序列和/或负周期持续时间偏差的序列作为测量序列(Δp,Δp(1),Δp(2),f,PN1至PN6,PP1至PP6)。

5.根据权利要求4所述的超声测量装置,其中,所述接收装置(14)包括第一时间测量单元(62a,154a)和第二时间测量单元(62b,154b),其中,所述第一时间测量单元(62a,154a)被设计用于确定相对于所述基准周期持续时间(P0)的正周期持续时间偏差(Δp,Δp(1),Δp(2)),并且所述第二时间测量单元(62b,154b)被设计用于确定相对于所述基准周期持续时间(P0)的负周期持续时间偏差。

6.根据以上权利要求中任一项所述的超声测量装置,其中,在所述比较装置(60)上存放有关于所述至少一个反射物体(16a,16b,16c,18)的第一比较形状特征方面的至少一个第一基准序列以及关于所述至少一个反射物体(16a,16b,16c,18)的第二比较形状特征方面的至少一个第二基准序列。

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