[发明专利]断层图像摄像设备和断层图像校正处理方法

权利要求书

1.一种断层图像摄像设备，其特征在于，包括：

断层图像获取部件，用于获取多个断层图像；

分析部件，用于分析所述多个断层图像中的各个断层图像；

断层图像选择部件，用于基于分析结果，选择基准断层图像；以及

断层图像位置校正部件，用于通过使用所选择的基准断层图像，对所述多个断层图像进行位置校正。

2.根据权利要求1所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述分析部件包括提取部件，所述提取部件用于从断层图像中提取空间特征，

其中，所述断层图像选择部件选择包括所述空间特征的断层图像。

3.根据权利要求2所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述提取部件所提取的特征量包括空间频率、对比度变化量、边缘强度、是否存在解剖学结构以及是否存在病变中的至少一个。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述断层图像获取部件生成多个测量光束，并且通过使用各个测量光束来拍摄断层图像。

5.根据权利要求4所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述多个测量光束中的至少一个测量光束的照射条件不同于其它测量光束的照射条件。

6.根据权利要求5所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述照射条件包括测量光束的波长、聚焦位置以及相干门的位置中的至少一个。

7.根据权利要求4至6中任一项所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述多个测量光束在拍摄断层图像时一体地进行扫描，并且所述多个测量光束中的至少一个测量光束用作位置校正用的信号。

8.一种断层图像摄像设备，其特征在于，包括：

断层图像获取部件，用于获取多个断层图像；

分析部件，用于分析所述多个断层图像中的各个断层图像；以及

断层图像位置校正部件，用于基于进行了分析的断层图像，对所述多个断层图像进行位置校正，

所述断层图像获取部件包括：

生成多个测量光束并通过使用各个测量光束拍摄断层图像的部件；

扫描部件，用于在测量对象上的不同测量位置处同时扫描所述多个测量光束中的至少一个测量光束和其它测量光束；以及

控制部件，用于控制所述扫描部件，

其中，所述控制部件控制所述扫描部件，以使得所述其它测量光束已进行扫描的测量位置变成所述至少一个测量光束的测量位置。

9.一种断层图像摄像设备，其特征在于，包括：

断层图像获取部件，用于通过使用多个测量光束来获取多个断层图像，其中，所述多个测量光束包括照射条件不同于其它测量光束的照射条件的至少一个测量光束；

断层图像选择部件，用于从所述多个断层图像中选择位置校正用的基准断层图像；以及

断层图像位置校正部件，用于通过使用所选择的基准断层图像，对所述多个断层图像进行位置校正。

10.根据权利要求9所述的断层图像摄像设备，其特征在于，不同的所述照射条件是测量光束相对于被检体的测量位置、测量灵敏度以及分辨率中的至少一个。

11.根据权利要求9或10所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述断层图像选择部件分析断层图像，并且选择所述基准断层图像。

12.一种断层图像摄像方法，其特征在于，包括以下步骤：

断层图像获取步骤，用于使断层图像获取部件获取多个断层图像；

分析步骤，用于使分析部件分析所述多个断层图像中的各个断层图像；

断层图像选择步骤，用于使断层图像选择部件基于分析结果来选择基准断层图像；以及

断层图像位置校正步骤，用于使断层图像位置校正部件通过使用所选择的基准断层图像，对所述多个断层图像进行位置校正。