[发明专利]光信息记录介质无效

专利信息
申请号: 201080031653.6 申请日: 2010-07-15
公开(公告)号: CN102473431A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 田岛秀春;荣藤淳;足羽博明;小岛亮;小西正人;栗林勇 申请(专利权)人: 夏普株式会社;存储技术株式会社;TDK股份有限公司
主分类号: G11B7/24 分类号: G11B7/24;G11B7/007
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张远
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 信息 记录 介质
【权利要求书】:

1.一种光信息记录介质,其在基板上具有:多个信息记录层,其能够通过再生光来读出信息;中间层,其将上述多个信息记录层的各个分隔开;和透光层,其设置于离上述基板最远的位置,上述多个信息记录层由只能读出信息的层和包含能够对信息进行擦写的区域的擦写层构成,

所述光信息记录介质的特征在于,

设置于离上述透光层最远的位置上的信息记录层是包含能够对信息进行擦写的区域的擦写层,并且是按照与使用于通过光照射只能读出信息的层中的信息记录形式相比能够容易检测的方式记录光盘类型识别信息以及个体识别编号的记录层,

在上述只能读出的层中,以对所设置的信息进行再生时得到的推挽信号的极性为正的记录形式形成有预坑,

按照具有以上述擦写层为基准而确定的防污特性以及耐擦伤特性的方式来选择上述透光层表面的构造以及/或者材料。

2.根据权利要求1所述的光信息记录介质,其特征在于,

上述能够容易判定的方式是将脉冲激光照射于信息记录层,以μm单位的宽度形成长度为μm单位到mm单位的条纹并记录信息的方式。

3.根据权利要求1或2所述的光信息记录介质,其特征在于,

上述光盘类型识别信息、以及上述个体识别编号所被记录的半径位置位于比在信息的再生中需要进行跟踪的信息记录区域更靠近内周的位置。

4.根据权利要求1~3中任意一项所述的光信息记录介质,其特征在于,

设置于离上述透光层最远的位置上的信息记录层的轨道路径方向为从内周向外周的方向,并且相对于上述轨道路径方向,设置于离上述透光层最远的位置上的上述只能读出信息的层的轨道路径为顺轨道路径。

5.根据权利要求1~4中任意一项所述的光信息记录介质,其特征在于,

上述只能读出信息的层的引入区域设置于比内容记录区域更靠近内周部的位置。

6.根据权利要求1~5中任意一项所述的光信息记录介质,其特征在于,

通过使设置于上述擦写层的凹槽在基板面方向上蜿蜒来记录上述擦写层的地址,

通过由设置于上述只能读出信息的层的凹凸构成的预坑来记录该只能读出信息的层的地址。

7.一种光信息记录介质,其在基板上具有:多个信息记录层,其能够通过再生光来读出信息;中间层,其将上述多个信息记录层的各个分隔开;和透光层,其设置于离上述基板最远的位置,上述多个信息记录层由只能读出信息的层和包含能够对信息进行擦写的区域的擦写层构成,

上述光信息记录介质的特征在于,

设置于离上述透光层最远的位置上的信息记录层是包含能够对信息进行擦写的区域的擦写层,并且是按照与使用于通过光照射只能读出信息的层中的信息记录形式相比能够容易检测的方式记录光盘类型识别信息以及个体识别编号的记录层,

在上述只能读出的层中通过外凹坑形式来记录信息,

按照具有以上述擦写层为基准而确定的防污特性以及耐擦伤特性的方式来选择上述透光层表面的构造以及/或者材料。

8.根据权利要求7所述的光信息记录介质,其特征在于,

上述能够容易判定的方式是将脉冲激光照射于信息记录层,以μm单位的宽度形成长度为μm单位到mm单位的条纹并记录信息的方式。

9.根据权利要求7或8所述的光信息记录介质,其特征在于,

上述光盘类型识别信息、以及上述个体识别编号所被记录的半径位置位于比在信息的再生中需要进行跟踪的信息记录区域更靠近内周的位置。

10.根据权利要求7~9中任意一项所述的光信息记录介质,其特征在于,

设置于离上述透光层最远的位置上的信息记录层的轨道路径方向为从内周向外周的方向,并且相对于上述轨道路径方向,设置于离上述透光层最远的位置上的上述只能读出信息的层的轨道路径为顺轨道路径。

11.根据权利要求7~10中任意一项所述的光信息记录介质,其特征在于,

上述只能读出信息的层的引入区域设置于比内容记录区域更靠近内周部的位置。

12.根据权利要求7~11中任意一项所述的光信息记录介质,其特征在于,

通过使设置于上述擦写层的凹槽在基板面方向上蜿蜒来记录上述擦写层的地址,通过由设置于上述只能读出信息的层的凹凸构成的预坑来记录该只能读出信息的层的地址。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社;存储技术株式会社;TDK股份有限公司,未经夏普株式会社;存储技术株式会社;TDK股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201080031653.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top