[发明专利]自动分析装置有效
| 申请号： | 201080031159.X | 申请日： | 2010-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN102472710A | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 足立作一郎;前岛宗郎;山崎功夫;三村智宪 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N21/77 | 分类号： | G01N21/77;G01N21/49 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 张敬强;李家浩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种自动分析装置，其特征在于，具有：
反应盘，其用于在圆周上保持容纳有由样品和试剂混合而成的反应液的反应室，并反复旋转和停止；以及
散射光测量部，其具备光源和受光器，在上述反应盘旋转中向上述反应室照射来自上述光源的照射光，并测量由上述反应室中的反应液产生的散射光，
上述散射光测量部具备多个受光器，该多个受光器被配置在与上述反应室因上述反应盘的旋转而移动的移动方向垂直的面内，接受散射角度彼此不同的散射光。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
从与上述反应盘的旋转面垂直的方向观察时，上述照射光的光轴与上述各受光器的散射光受光光轴所成的角度是±17.7°以内。
3.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
上述多个受光器接受通过了与透射光通过的反应室壁相同的反应室壁的散射光。
4.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
上述多个受光器当中的至少一个受光器接受暗环与紧接着该暗环的明环之间的散射光。
5.根据权利要求4所述的自动分析装置，其特征在于，
上述暗环是第一暗环，上述明环是第一明环。
6.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
将上述多个受光器当中的第一受光器配置在接受散射角度30°以下的散射光的位置，并将第二受光器配置在接受散射角30°～50°的散射光的位置。
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