[发明专利]二次电池的劣化诊断方法及劣化诊断装置无效
申请号: | 201080029450.3 | 申请日: | 2010-12-10 |
公开(公告)号: | CN102472794A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 汤浅真一 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G01R31/36 | 分类号: | G01R31/36;B60R16/04;H01M10/48 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 戚宏梅;杨谦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二次 电池 诊断 方法 装置 | ||
1.一种二次电池的寿命诊断方法,其中,包括:
在二次电池的伴随电压变化的充电过程中,得到上述二次电池的电压变化率的步骤;
得到上述二次电池的充电电量变化率的步骤;以及
基于上述充电电量变化率及上述电压变化率,判断上述二次电池的劣化的步骤。
2.一种二次电池的寿命诊断方法,其中,包括:
(a)在二次电池的伴随电压变化的充电过程中,求出上述二次电池的电压V成为规定电压Vpre时的电压变化率dV/dt的步骤;
(b)得到上述二次电池的电压V成为上述规定电压Vpre时的充电电量Q的变化率dQ/dt的步骤;
(c)计算上述充电电量变化率dQ/dt与上述电压变化率dV/dt的比值X即dQ/dV,将计算出的上述比值X与基准值Xref进行比较的步骤;以及
(d)基于上述步骤(c)的比较结果,判断上述二次电池的劣化的步骤。
3.如权利要求2所述的二次电池的寿命诊断方法,其中,
上述基准值Xref是上述充电电量变化率dQ/dt与上述二次电池的上述规定电压Vpre下的上述电压变化率dV/dt的初始值dVint/dt的比值dQ/dVint,
在上述比值X小于等于将与上述规定电压Vpre相对应地决定出的比例α乘以上述基准值Xref而得到的值α·(dQ/dVint)时,判断为上述二次电池已劣化。
4.如权利要求1~3中的任一项所述的二次电池的寿命诊断方法,其中,还包括:
(e)基于计算出的上述比值X即dQ/dV与上述基准值Xref即dQ/dVint的比率Y即dVint/dV、以及上述二次电池的最大可蓄电能量QM的初始值QMint,计算上述二次电池的最大可蓄电能量的当前值QMpv的步骤。
5.如权利要求1~4中的任一项所述的二次电池的寿命诊断方法,其中,
针对相互不同的多个上述规定电压Vpre分别求出上述比值X即dQ/dV。
6.如权利要求1~5中的任一项所述的二次电池的劣化诊断方法,其中,
在上述比率Y即dVint/dV为0.4~1的范围时,通过公式:
QMpv=AY+B
计算上述最大可蓄电能量QM的当前值QMpv,其中A及B分别为常数。
7.如权利要求1~6中的任一项所述的二次电池的寿命诊断方法,其中,
上述二次电池的充电为恒流充电。
8.一种二次电池的劣化诊断装置,其中,包括:
电压检测单元,检测充电过程中的二次电池的电压V;
电压变化率计算单元,在上述二次电池的充电过程中,计算由上述电压检测单元检测出的二次电池的电压成为规定电压Vpre时的上述二次电池的电压变化率dV/dt;
充电电量变化率输出单元,输出由上述电压检测单元检测出的二次电池的电压成为规定电压Vpre时的上述二次电池的充电电量Q的变化率dQ/dt;
比较单元,计算上述电压变化率dV/dt与上述电量变化率dQ/dt的比值X即dQ/dV,将计算出的上述比值X与基准值Xref进行比较;以及
劣化判断单元,基于上述比较单元的比较结果,判断上述二次电池的劣化。
9.如权利要求7所述的二次电池的劣化诊断装置,其中,还包括:
计算单元,基于上述比较单元的比较结果、以及上述二次电池的最大可蓄电能量QM的初始值QMint,计算上述二次电池的最大可蓄电能量的当前值QMpv。
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