[发明专利]具有可调整的焦点轨迹的X射线管无效

专利信息
申请号: 201080029312.5 申请日: 2010-06-28
公开(公告)号: CN102473573A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: K·克拉夫特;G·J·卡尔松;M·马斯卡;P·徐 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: H01J35/10 分类号: H01J35/10
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 蔡洪贵
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 具有 可调整 焦点 轨迹 射线
【权利要求书】:

1.一种X射线管(24),所述X射线管(24)具有外壳体、阴极和阳极组件(26),所述阳极组件(26)包括:

设置有环形靶的可转动盘体(28),所述环形靶形成焦点轨迹(30),所述焦点轨迹围绕对称轴线(32)转动地对称;以及

用于支承所述盘体(28)的转子轴杆(34),所述转子轴杆围绕主转动轴线(36)被可转动地支承;

其中,所述转子轴杆(34)设置有用于支承所述盘体(28)的安装表面(38);

所述盘体(28)设置有将安装到所述安装表面(38)的邻接表面(40);

校正装置(42)被布置在所述安装表面(38)和所述邻接表面(40)之间,使得所述焦点轨迹(30)相对于所述主转动轴线(36)的偏离可调整。

2.如权利要求1所述的X射线管,其特征在于,所述盘体(28)由复合材料制成。

3.如权利要求2所述的X射线管,其特征在于,所述盘体(28)由碳纤维增强碳复合材料制成。

4.如前述任一权利要求所述的X射线管,其特征在于,所述校正装置(42)被布置成使得所述对称轴线(32)与所述主转动轴线(36)之间的偏差被至少部分地补偿。

5.如前述任一权利要求所述的X射线管,其特征在于,所述校正装置(42)补偿所述对称轴线(32)相对于所述主转动轴线(36)的径向偏移(X)。

6.如前述任一权利要求所述的X射线管,其特征在于,所述校正装置(42)补偿所述对称轴线(32)相对于所述主转动轴线(36)的倾斜。

7.如前述任一权利要求所述的X射线管,其特征在于,所述安装表面(38)垂直于所述主转动轴线(36),所述校正装置(42)补偿所述邻接表面(40)相对于所述对称轴线(32)的垂线的倾斜。

8.如前述任一权利要求所述的X射线管,其特征在于,所述校正装置(42)包括具有变化厚度的至少一个校正垫片(43),提供相对彼此倾斜的两个外支承面。

9.如权利要求8所述的X射线管,其特征在于,设置两个校正垫片(43,44),其中至少一个校正垫片具有变化厚度。

10.如前述任一权利要求所述的X射线管,其特征在于,所述校正装置(42)具有偏移中心。

11.如前述任一权利要求所述的X射线管,其特征在于,所述校正装置(42)包括被附连到所述邻接表面(40)的可精密加工衬套(46),所述衬套(46)设置有与所述安装表面(38)邻接的配装表面(56)。

12.如前述任一权利要求所述的X射线管,其特征在于,所述校正装置(42)由铌制成。

13.如前述任一权利要求所述的X射线管,其特征在于,所述焦点轨迹(30)的偏离被消除。

14.一种X射线成像系统(10),包括X射线图像采集装置,所述X射线图像采集装置具有:

产生X射线辐射的X射线辐射源(12);

X射线图像探测模块(16);

与所述探测模块(16)和所述辐射源(12)连接的数据处理单元(18);

显示装置(20);以及

界面单元(22);

其中,所述X射线辐射源(12)包括如前述任一权利要求所述的X射线管(24)。

15.一种调整如权利要求1至13任一所述X射线管(24)的焦点轨迹(30)的偏离的方法,包括如下步骤:

确定所述焦点轨迹(30)相对于所述主转动轴线(36)偏离的幅度的步骤(112);

检测所述焦点轨迹(30)的偏离的实际值的步骤(114);

比较所述实际值与所确定的值的步骤(116);以及

调整所述校正装置(42)从而调整所述焦点轨迹(30)的偏离的步骤(118)。

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