[发明专利]基于状态变量的误差检测和/或校正

说明书

技术领域

本申请一般地涉及计算领域，更具体地涉及基于状态变量的误差检测和/或校正。

背景技术

可能存在众多的设计目的和操作目的，包括延迟(latency)、吞吐量、面积、成本和功率。这些设计目的和操作目的的相对重要性会随着实现技术、应用程序和支持工具的趋势而变化。然而，如果可编程设计或专用设计正确地工作，那么这些设计和操作目的或度量(metric)可以是相关的。因此，对用于误差检测、诊断和校正的技术和工具的开发会具有极为重要的重要性。用于误差检测、诊断和校正的技术和工具的重要性在低功率设计和/或低功率设备操作和调试中(诸如可以在有挑战性的条件和严格的计算资源与能量约束下工作的无线系统和移动系统)甚至会更高。由于可能的热敏度和连续的工作模式，具有强调的重要性的其他类型的系统包括在数据中心中使用的计算机和通信设备。

发明内容

本发明的实施例包括与基于状态变量的针对计算的误差检测和/或校正相关联的方法、装置和制造品。在各实施例中，方法可以包括：第一计算平台接收使用一个或多个输入数据在第二计算平台上进行的计算的截取处的一组一个或多个状态变量的一个或多个当前值。该一组一个或多个状态变量可以定义在截取处之后的计算。在各实施例中，该方法还可以包括第一计算平台检测在第二计算平台上进行的计算的一个或多个误差。检测可以至少部分地基于计算的截取处的一组一个或多个状态变量。

在各实施例中，该方法还可以包括第三计算平台确定一组一个或多个校正，以及第三计算平台向第二计算平台提供该一组一个或多个校正。第一计算平台和第三计算平台可以是同一计算平台或者不同的计算平台。在各实施例中，确定可以包括求解具有多个变量的线性方程组，其中，来自一个或多个状态变量中的独立状态变量对应于线性方程组的变量。

在各实施例中，该方法还可以包括第一计算平台使用相同的一个或多个输入数据在第一计算平台上进行相同的计算，以及第一计算平台对在第一计算平台上进行的计算的对应截取处的一组一个或多个状态变量的对应的一个或多个当前值进行采集。检测可以包括对在第二计算平台和第一计算平台上进行的计算的截取处的一组一个或多个状态变量的一个或多个当前值分别进行比较。

在各实施例中，截取处可以包括完整的截取处，该完整的截取处包括对该截取处之后的计算进行定义的所有状态变量。在各实施例中，截取处可以包括部分截取处，该部分截取处包括对该截取处之后的计算进行定义的所有状态变量的子集。

在各实施例中，计算可以是在第二计算平台的第一定时配置下进行的，该方法还可以包括为在第二计算平台的第二定时配置下进行的计算重复进行上述接收、检测、确定和提供。第一定时配置和第二定时配置可以是不同的。

在各实施例中，计算可以在第二计算平台上用第一组状态元件进行的，而方法还可以包括为在第二计算平台上用第二组状态元件进行的计算重复进行上述接收、检测、确定和提供，其中，第一组状态元件和第二组状态元件是不同的。第一组状态元件和第二组状态元件对应于第一组状态变量和第二组状态变量。

在各实施例中，计算可以是在第二计算平台上用第一组状态元件进行的，该方法还可以包括为在第二计算平台上用第二组状态元件进行的计算重复进行上述接收、检测、确定和提供。第一组状态元件和第二组状态元件可以是不同的，并且第一组状态元件和第二组状态元件对应于第一组状态变量和第二组状态变量。

在各实施例中，方法可以包括：第一计算平台使用一个或多个输入数据来进行计算；第一计算平台采集计算的截取处的一组一个或多个状态变量的一个或多个当前值，其中，该一组一个或多个状态变量定义了在该截取处之后的计算；以及将计算的截取处的一组一个或多个状态变量的采集到的一个或多个当前值从第一计算平台发送到第二计算平台，以用于第二计算平台对在第一计算平台上进行的计算的一个或多个误差进行检测，以及用于第二计算平台针对所检测到的误差中的一个或多个误差向第一计算平台提供校正。

在各实施例中，截取处可以包括完整的截取处，该完整的截取处包括对该截取处之后的计算进行定义的所有状态变量。在各实施例中，截取处可以包括部分截取处，该部分截取处包括对该截取处之后的计算进行定义的所有状态变量的子集。

在各实施例中，计算可以是第二计算平台的第一定时配置下进行的，该方法还可以包括为在第二计算平台的第二定时配置下进行的计算重复进行上述接收、检测、确定和提供。第一定时配置和第二定时配置可以是不同的。