[发明专利]多结光伏电池的制造有效
| 申请号: | 201080021163.8 | 申请日: | 2010-05-10 |
| 公开(公告)号: | CN102428569A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
| 发明(设计)人: | S·W·贝德尔;N·索萨·考特斯;K·E·佛格尔;D·萨达纳;K·L·萨恩格;D·沙杰迪 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
| 主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 邹姗姗 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 多结光伏 电池 制造 | ||
1.一种用于制造多结光伏(PV)电池的方法,该方法包括:
在衬底上形成包括多个结的堆,所述多个结中的每一个都具有相应的能带隙,其中所述多个结从具有最大能带隙的结位于所述衬底上到具有最小能带隙的结位于所述堆的顶部来排序;
在所述具有最小能带隙的结之上形成金属层,该金属层具有拉伸应力;
将柔性衬底粘附到所述金属层;及
在所述衬底中的裂缝处从所述衬底剥离半导体层,其中所述裂缝是响应于所述金属层中的拉伸应力而形成的。
2.如权利要求1所述的方法,还包括蚀刻所述半导体层,以形成至少一个半导体触点。
3.如权利要求2所述的方法,其中,半导体触点层是大约200纳米到500纳米之间厚。
4.如权利要求2所述的方法,还包括在所述具有最大能带隙的结上形成包括基于氧化物或氮化物的薄膜的抗反射涂层。
5.如权利要求2所述的方法,还包括在所述至少一个半导体触点上形成至少一个金属电极,所述至少一个金属电极包括对所述至少一个半导体触点的欧姆接触。
6.如权利要求1所述的方法,其中,所述金属层包括镍。
7.如权利要求1所述的方法,其中,所述衬底包括砷化镓或者锗中的一种。
8.如权利要求1所述的方法,其中,所述柔性衬底包括聚酰亚胺。
9.如权利要求1所述的方法,其中,所述金属层包括用于所述多结PV电池的背触点。
10.如权利要求1所述的方法,其中,所述多个结包括3个结,而且所述包括多个结的堆的厚度小于大约15微米。
11.如权利要求1所述的方法,其中,所述半导体层小于大约10微米厚。
12.如权利要求1所述的方法,其中,所述多个结中的一个或多个处于压缩应变中,该压缩应变是由所述金属层中的拉伸应力导致的。
13.如权利要求11所述的方法,其中,所述衬底包括位于半导体衬底上的籽层、位于所述籽层上的蚀刻停止/释放层、位于所述蚀刻停止/释放层上的第二籽层、以及位于所述第二籽层上的蚀刻停止层,其中所述具有最大能带隙的结形成在所述蚀刻停止层上,而且其中所述裂缝形成在所述第二籽层中。
14.如权利要求1所述的方法,其中,所述多个结中的每一个都包括:触点层、位于所述触点层上的窗口层、位于所述窗口层上的发射极层、位于所述发射极层上的基极层、位于所述基极层上的背面电场、位于所述背面电场上的背触点及位于所述背触点上的隧道结。
15.如权利要求1所述的方法,还包括在所述衬底中形成裂开层,该裂开层配置成确定所述裂缝的位置。
16.如权利要求15所述的方法,其中,所述裂开层包括在衬底内的锗锡(GeSn)、氢化层或者界面层中的一个。
17.一种多结光伏(PV)电池,包括:
至少一个半导体触点;
包括多个结的堆,所述多个结中的每一个都具有相应的能带隙,其中所述多个结从具有最大能带隙的结位于所述至少一个半导体触点上到具有最小能带隙的结位于所述堆的顶部来排序;
具有拉伸应力的金属层,该金属层位于所述具有最小能带隙的结之上,该金属层包括背触点;及
粘附到所述金属层的柔性衬底。
18.如权利要求17所述的多结PV电池,其中,所述半导体触点是大约200纳米到500纳米之间厚,而且所述半导体触点包括锗或砷化镓中的一种;其中所述柔性衬底包括聚酰亚胺;而且其中所述金属层包括镍。
19.如权利要求17所述的多结PV电池,还包括在所述具有最大能带隙的结上的抗反射涂层及在所述至少一个半导体触点上的至少一个金属电极,该抗反射涂层包括基于氧化物或者氮化物的薄膜,所述至少一个金属电极包括对所述至少一个半导体触点的欧姆接触。
20.如权利要求17所述的多结PV电池,其中,所述多个结中的一个或多个处于压缩应变下,该压缩应变是由所述金属层中的拉伸应力导致的。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国际商业机器公司,未经国际商业机器公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201080021163.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





